ICP光譜儀購(gòu)買(mǎi)時(shí)用注意什么？

ICP光譜儀購(gòu)買(mǎi)時(shí)用注意什么？我們接下來(lái)就來(lái)簡(jiǎn)單的了解一下。

一、穩(wěn)定性,分析儀器的就是穩(wěn)定性,ICP在每次分析前都要進(jìn)標(biāo)樣,所以檢測(cè)結(jié)果一般與真值偏差都不打,關(guān)鍵是同類(lèi)樣品是否在每次分析出來(lái)之后結(jié)果是否一致,如果忽高忽低你知道那個(gè)樣品是合格的

二、分析速度,如果是全譜的機(jī)器,一般72個(gè)元素/分鐘,如果是掃描型的,速度要慢.現(xiàn)在除了一些特殊行業(yè)還在用掃描型的,其他的都是全譜了.不是說(shuō)掃描型不好,只是技術(shù)比較陳舊,容易被淘汰.

三、波長(zhǎng)范圍,是否能覆蓋你所要檢測(cè)所有元素的譜線(xiàn)范圍

四、光學(xué)分辨率（200nm處）,理論上來(lái)說(shuō)分辨率越高越好,當(dāng)然還看你的樣品情況

五、故障率,這個(gè)不用多說(shuō)了,天天壞那就沒(méi)法用了

六、售后服務(wù),沒(méi)有永遠(yuǎn)不壞的機(jī)器,售后服務(wù)的好壞也很重要。

ICP光源觀察方式

雙向觀測(cè)：雙向觀測(cè)是在水平觀測(cè)ICP光源的基礎(chǔ)，增加一套側(cè)向采光光路，實(shí)現(xiàn)垂直/水平雙向觀測(cè)，即在炬管垂直觀測(cè)的方向依次放置3塊反射鏡，當(dāng)要使用垂直觀測(cè)的時(shí)候，就通過(guò)3塊反射鏡把炬管垂直方向上的光反射到原光路中，并通過(guò)旋轉(zhuǎn)原光路的塊反射鏡，使垂直方向來(lái)的光與原水平方向來(lái)的光在整個(gè)光路中重合。光譜校正是儀器實(shí)際測(cè)得的波長(zhǎng)與理論波長(zhǎng)之間出現(xiàn)的偏差別進(jìn)行的校正，一般是通過(guò)測(cè)試一系列元素的波長(zhǎng)來(lái)進(jìn)行校正，校正后所得數(shù)據(jù)即為對(duì)光譜彼進(jìn)行校正的校正數(shù)據(jù)。該觀測(cè)方式的切換反射鏡由計(jì)算機(jī)控制，該方式融合了軸向、徑向的特點(diǎn)，具有一定的靈活性，增強(qiáng)了測(cè)定復(fù)雜樣品的能力。改觀測(cè)方式可實(shí)現(xiàn)以下3中方式的測(cè)量：

①全部元素譜線(xiàn)水平測(cè)量。

②全部元素譜線(xiàn)垂直測(cè)量。

③部分元素譜線(xiàn)水平測(cè)量，部分元素譜線(xiàn)垂直測(cè)量。

雙向觀測(cè)能有效解決水平觀測(cè)中存在的電子干擾，進(jìn)一步擴(kuò)寬線(xiàn)性范圍。但是該觀測(cè)方式需要不斷地切換反射鏡，可 能導(dǎo)致儀器的穩(wěn)定性變差。為了確保ICP光譜儀的安全運(yùn)轉(zhuǎn)，供電線(xiàn)路有必要要有足夠大的容量，不然儀器運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)線(xiàn)路的電壓降過(guò)大，影響儀器壽數(shù)。由于徑向觀測(cè)的需要，炬管側(cè)面必須開(kāi)口，導(dǎo)致炬管的壽命大大降低，同時(shí)也改變了炬焰的形狀。炬管開(kāi)口處必須嚴(yán)格與光路對(duì)準(zhǔn)，要不然炬管壁容易積累鹽，會(huì)使檢測(cè)結(jié)果嚴(yán)重錯(cuò)誤;同時(shí)如果在開(kāi)口出現(xiàn)積鹽同樣也會(huì)導(dǎo)致儀器檢測(cè)結(jié)構(gòu)存在嚴(yán)重的錯(cuò)誤，必須注意清洗。而且增加了曝光次數(shù)，降低了分析速度，增加了分析消耗。

ICP光譜儀光譜分析

今天ICP光譜儀小編跟您講講光譜分析，由于每種原子都有自己的特征譜線(xiàn)，因此可以根據(jù)光譜來(lái)鑒別物質(zhì)和確定它的化學(xué)組成.這種方法叫做光譜分析.做光譜分析時(shí)，可以利用發(fā)射光譜，也可以利用吸收光譜.這種方法的優(yōu)點(diǎn)是非常靈敏而且迅速.某種元素在物質(zhì)中的含量達(dá)10^-10(10的負(fù)10次方)克，就可以從光譜中發(fā)現(xiàn)它的特征譜線(xiàn)，因而能夠把它檢查出來(lái).光譜分析在科學(xué)技術(shù)中有廣泛的應(yīng)用.例如，在檢查半導(dǎo)體材料硅和鍺是不是達(dá)到了高純度的要求時(shí)，就要用到光

太陽(yáng)光譜譜分析.在歷，光譜分析還幫助人們發(fā)現(xiàn)了許多新元素.例如，銣和銫就是從光譜中看到了以前所不知道的特征譜線(xiàn)而被發(fā)現(xiàn)的.光譜分析對(duì)于研究天體的化學(xué)組成也很有用.十九世紀(jì)初，在研究太陽(yáng)光譜時(shí)，發(fā)現(xiàn)它的連續(xù)光譜中有許多暗線(xiàn)。ICP光譜儀的特點(diǎn)1、爐中取的樣品只要打磨掉表面氧化皮,固體樣品即可放在樣品臺(tái)上激發(fā),免去了化學(xué)分析鉆取試樣的麻煩。不知道這些暗線(xiàn)是怎樣形成的，后來(lái)人們了解了吸收光譜的成因，才知道這是太陽(yáng)內(nèi)部發(fā)出的強(qiáng)光經(jīng)過(guò)溫度比較低的太陽(yáng)大氣層時(shí)產(chǎn)生的吸收光譜.仔細(xì)分析這些暗線(xiàn)，把它跟各種原子的特征譜線(xiàn)對(duì)照，人們就知道了太陽(yáng)大氣層中含有氫、氦、氮、碳、氧、鐵、鎂、硅、鈣、鈉等幾十種元素.

ICP光譜儀兩個(gè)熄火的原因

（1）ICP光譜儀本身維持和儀器認(rèn)為有危險(xiǎn)而關(guān)閉ICP光譜儀，稱(chēng)為保護(hù)性熄火。

（2）等離子體不能維持。出現(xiàn)這種現(xiàn)象首先要看計(jì)算機(jī)屏幕是否有對(duì)話(huà)框提示，根據(jù)對(duì)話(huà)框提示來(lái)判斷是那哪方式的熄火；沒(méi)有提示繼續(xù)采用聽(tīng)、看和摸等感官感應(yīng)鎖發(fā)生的現(xiàn)象來(lái)判定故障部位。ICP發(fā)射光譜法具有同時(shí)或順序多元素測(cè)定能力，特別是固體成像檢測(cè)器的開(kāi)發(fā)和使用及全譜直讀光譜儀的商品化更增強(qiáng)了它的多元素同時(shí)分析的能力。等離子體不能維持說(shuō)明離子體比較弱，低功率與高負(fù)載都易導(dǎo)致滅火，檢查RF功率（通過(guò)IP）和使用低鹽類(lèi)樣品可幫助判斷是否存在以上可能，不良的調(diào)諧有時(shí)也會(huì)導(dǎo)致滅火，但很多發(fā)生在樣品切換時(shí)，需要加以注意。造成這種原因的主要問(wèn)題如下：

①檢查氣體是否被耗費(fèi)完，如果耗完，請(qǐng)立即更換高純氣，為了保護(hù)固態(tài)檢測(cè)器的安全，2h后再點(diǎn)火。

②看氣壓表和流量計(jì)是否正常。

③如果排風(fēng)系統(tǒng)排風(fēng)不暢或不連續(xù)，等離子炬區(qū)域的熱量無(wú)法及時(shí)排除，出現(xiàn)積聚，影響等離子炬的穩(wěn)定，也會(huì)造成等離子炬熄火。

④進(jìn)樣系統(tǒng)突然漏氣或者突然堵塞也會(huì)造成熄火。

⑤如果低功率與高負(fù)載（有機(jī)溶液、高鹽溶液）測(cè)定樣品，也會(huì)因?yàn)樵O(shè)置參數(shù)不匹配造成等離子炬熄火。

⑥ICP光譜儀炬管外圍的銅線(xiàn)圈外壁結(jié)垢，管內(nèi)結(jié)構(gòu)。循環(huán)系統(tǒng)滲漏及管道過(guò)濾器堵塞等原因?qū)е卵h(huán)水量不足以及風(fēng)冷效果不佳（與室溫有直接關(guān)系）均會(huì)影響循環(huán)水冷卻的效果，導(dǎo)致由于冷卻水溫度過(guò)高而啟動(dòng)自動(dòng)保護(hù)裝置熄火

⑦ICP光譜儀等離子體的保護(hù)性熄火主要對(duì)高壓的保護(hù)和對(duì)高頻的保護(hù)，往往對(duì)高壓的保護(hù)會(huì)有提示，觀察滅火時(shí)間對(duì)判斷滅火原因很有用。操作員要準(zhǔn)確告知維修工程師滅火發(fā)生在點(diǎn)燃后的情況，具體說(shuō)明等離子維持時(shí)間在什么范圍。隨著工業(yè)的發(fā)展和產(chǎn)品要求的提高，研發(fā)新型和性能金屬材料的需求日益增加，各種痕量元素的測(cè)定變得愈加重要。水、排風(fēng)。門(mén)等及過(guò)流開(kāi)關(guān)連鎖保護(hù)開(kāi)關(guān)損壞也會(huì)熄火，應(yīng)急辦法是把開(kāi)關(guān)進(jìn)行短路處理后，短時(shí)間內(nèi)對(duì)數(shù)據(jù)測(cè)定不會(huì)帶來(lái)影響，等待光譜儀維修工程師上門(mén)維修。