TIR100 – 2 熱發(fā)射率儀應(yīng)用

1.鍍膜玻璃的質(zhì)量控制

熱保護(hù)絕緣玻璃的的低U-值取決于玻璃鍍膜的低發(fā)射率，YT/TIR 100對鍍膜的質(zhì)量控制以及實(shí)驗(yàn)室中開發(fā)新鍍膜非常有用。

2.金屬箔片鍍膜的質(zhì)量控制

3.太陽能收集器鍍膜的質(zhì)量控制

的太陽能收集器的效率取決于收集器表面非產(chǎn)低的發(fā)射率，因此YT/TIR 100也是此行業(yè)質(zhì)量控制的理想設(shè)備

4.表面熱涂層的質(zhì)量控制

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IR-2雙波段發(fā)射率測試儀儀器特點(diǎn)

1．儀器中有小型標(biāo)準(zhǔn)黑體輻射源，采用六位微機(jī)控溫儀(能顯示到1mk)，使儀器不僅具有穩(wěn)定的寬光譜測量范圍，而且極大地提高了儀器在測量時(shí)的可靠性和穩(wěn)定性。

2．采用了獨(dú)特的光學(xué)調(diào)制技術(shù)，使測量不受被測物表面輻射及環(huán)境輻射的影響。

3．在儀器設(shè)計(jì)中，考慮到樣品漫反射引起的測量誤差，除鏡反射(MR)探測通道外，還增設(shè)了專門的漫反射(DR)補(bǔ)償通道，從而確保了儀器的測量精度。

4．在信號及電子學(xué)處理技術(shù)上采用鎖相技術(shù)和微電子技術(shù)，較好地實(shí)現(xiàn)了對微弱信號的探測，進(jìn)一步提高了儀器性能。

5．本儀器操作簡單、使用方便、測量快速。

6．可按需更換濾光片，在多個紅外光譜波段內(nèi)進(jìn)行測試。

7．在測量過程中不損傷被測樣品。

8．本儀器帶RS-232串口及復(fù)位鍵RST。

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熱輻射定律

它用于描述物體的發(fā)射率與吸收比之間的關(guān)系。在同樣的溫度下，各種不同物體對相同波長的單色輻射出射度與單色吸收比之比值都相等，并等于該溫度下黑體對同一波長的單色輻射出射度。兩物體間輻射傳熱的速率Q12可表示為式中T1、T2分別為兩物體的表面溫度;F1為一物體的表面面積;φ12為以F1為基準(zhǔn)的角系數(shù)，代表一物體輻射出去的能量投射到表面F2的分率，它取決于兩物體的形狀、大小和相對位置；熱輻射的能量穿過固體或液體的表面后只經(jīng)過很短的距離（一般小于1mm,穿過金屬表面后只經(jīng)過1μm）,就被完全吸收。C12為總輻射系數(shù)，其值與兩物體的黑度、大小、形狀和相對位置有關(guān)。

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熱輻射的基本概念

任何物體在發(fā)出輻射能的同時(shí)，也不斷吸收周圍物體發(fā)來的輻射能。一物體輻射出的能量與吸收的能量之差，就是它傳遞出去的凈能量。物體的輻射能力（即單位時(shí)間內(nèi)單位表面向外輻射的能量），隨溫度的升高增加很快。一般說來，當(dāng)一物體受到其他物體投來的輻射（能量為Q）時(shí),其中被吸收轉(zhuǎn)為熱能的部分為QA,被反射的部分為QR，透過物體的部分為QD,顯然這些部分與總能量之間有下式所示的關(guān)系：QA QR QD=Q如果把A=QA/Q稱為吸收率,R=QR/Q稱為反射率,D=QD/Q稱為穿透率，則有：A R D=1若物體的A=1，R=D=0，即到達(dá)該物體表面的熱輻射的能量完全被吸收，此物體稱為絕1對黑體,簡稱黑體。輻射能力和吸收能力理論研究證明，黑體的輻射能力E0為：E0=σ·Tˇ4此式稱為斯忒藩－波耳茲曼定律。

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