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氦質(zhì)譜檢漏儀
待機(jī)時電離室真空度保持在≤3x10-2Pa,燈絲不易被氧化脆斷。在檢漏過程中,當(dāng)出現(xiàn)意外情況,系統(tǒng)突然暴露大氣或真空度突然降低,導(dǎo)致大量的氣體突然進(jìn)入電離室,真空度≥1x10-1Pa時,燈絲電流急劇增大,燈絲被碳化,就發(fā)生了脆斷現(xiàn)象。
氦質(zhì)譜檢漏儀燈絲壽命如何延長?有前面分析已知,造成氦質(zhì)譜檢漏儀燈絲脆斷的原因:1.真空度低;2.燈絲電流過大;3.對燈絲有害的氣體氣壓太高(氧化性氣體、水蒸氣、氫氣)。那么,在使用中盡量避免燈絲在上述惡劣環(huán)境下長時間開啟,或者說盡量提高燈絲的上述使用條件就可以有效延長氦質(zhì)譜檢漏儀的燈絲壽命。如:1.使用中盡量將預(yù)置真空開關(guān)空擋;2.避免電離室泄入有害氣體(氧化性氣體、水蒸氣、氫氣)。
氦質(zhì)譜檢漏儀的優(yōu)勢
科技信息化不斷更新迭代的市場,氦質(zhì)譜檢漏儀的應(yīng)用技術(shù)也在不斷發(fā)展和完善。一方面過去的氦質(zhì)譜檢漏儀不能滿足現(xiàn)階段的一個需求,而且對檢漏儀提出新要求的情況下,檢漏儀設(shè)備使更新,另一方面每個行業(yè)的不足都在進(jìn)步的過程,缺陷與不足相互補(bǔ)充,相互促進(jìn)。而現(xiàn)在的氦質(zhì)譜檢漏儀早已告別了四五十年代的初期情形,在性能和領(lǐng)域上都有新的突破。
氦質(zhì)譜檢漏儀從以往的單方面領(lǐng)域的應(yīng)用到現(xiàn)在多領(lǐng)域的應(yīng)用,如:航空航天高科技工業(yè)、電力行業(yè)、電子行業(yè)、真空儀器儀表行業(yè)、核工業(yè)、制冷行業(yè)、不銹鋼保溫器皿等。其實(shí)氦質(zhì)譜檢漏儀的領(lǐng)域應(yīng)用廣發(fā)也是代表科技的一大進(jìn)步,常見的氦質(zhì)譜檢漏儀檢測儀方法有漏點(diǎn)型、漏率型兩種。
氦質(zhì)譜檢漏儀適用于元件檢漏的要求,靈活性測試,高靈敏度,快速啟動,移動性和系統(tǒng)的可靠性。
質(zhì)譜法基本原理
質(zhì)譜,又稱質(zhì)譜法(mass spectrometry,MS),是通過不同的離子化方式,將試樣(原子或分子)轉(zhuǎn)化為運(yùn)動的氣態(tài)離子,并按照質(zhì)荷比(m/z)大小進(jìn)行分離檢測的分析方法,是一種與光譜并列的譜學(xué)方法。根據(jù)質(zhì)譜圖上峰的位置和相對強(qiáng)度大小,質(zhì)譜可對無機(jī)物、有機(jī)物和生物大分子進(jìn)行定性和定量分析。Thomson JJ于1906年發(fā)明質(zhì)譜,并運(yùn)用于發(fā)現(xiàn)非性同位素和無機(jī)元素分析。20世紀(jì)40年代以后開始用于有機(jī)物分析。Thomson JJ于1906年發(fā)明質(zhì)譜,并運(yùn)用于發(fā)現(xiàn)非性同位素和無機(jī)元素分析。20世紀(jì)40年代以后開始用于有機(jī)物分析。80年代初期,快原子轟擊電離的應(yīng)用,是質(zhì)譜更好的運(yùn)用于生物化學(xué)大分子。90年代以來,隨著電噴霧電離和基質(zhì)輔助激光解吸電離的應(yīng)用,已形成生物質(zhì)譜學(xué)一新學(xué)科[1]。目前,質(zhì)譜法已經(jīng)日益廣泛的應(yīng)用于原子能、化學(xué)、電子、冶金、、食品、陶瓷等工業(yè)生產(chǎn)部門,農(nóng)業(yè)科學(xué)研究部門,以及物理、電子與離子物理、同位素地質(zhì)學(xué)、有機(jī)化學(xué)等科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域[2]。
質(zhì)譜法基本原理
質(zhì)譜法的基本原理是試樣分子或原子在離子源中發(fā)生電離,生成各種類型帶電粒子或離子,經(jīng)加速電場的作用獲得動能形成離子束;進(jìn)入質(zhì)量分析儀,在其中再利用帶電粒子在電場或磁場中運(yùn)動軌跡的差異,將不同質(zhì)荷比的離子按空間位置或時間的不同而分離開;然后到達(dá)離子將離子流轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?,得到質(zhì)譜圖。
質(zhì)譜儀基本結(jié)構(gòu),化合物的質(zhì)譜是由質(zhì)譜儀測得的。質(zhì)譜儀是使分析試樣離子化并按質(zhì)荷比大小進(jìn)行分離、檢測和記錄的儀器。一般質(zhì)譜儀由進(jìn)樣系統(tǒng),離子源,質(zhì)量分析儀,離子及信號放大記錄系統(tǒng)組成