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將記錄X-ray穿透不同密度材料后的光強度變化,并且所得的對比效果可以形成圖像以顯示待測對象的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。當(dāng)測試對象被破壞時,觀察測試對象內(nèi)部的問題區(qū)域。
在電子半導(dǎo)體領(lǐng)域,x-ray可以檢測金屬材料和零件,塑料材料和零件,電子零件,電子零件,LED零件等中的內(nèi)部裂紋,異物的缺陷檢測以及BGA,電路的內(nèi)部位移。板等。分析;識別BGA焊接缺陷(例如空焊和虛擬焊),并分析微電子系統(tǒng)和膠封組件,電纜,固定裝置和塑料零件的內(nèi)部狀況。
主要原因是是:
夾雜物:由于技術(shù)工人的不當(dāng)操作和爐內(nèi)材料的不干凈選擇,它們通常分布在鑄件的接頭處,這些接頭看上去發(fā)黃和灰白色。
氣孔:在生產(chǎn)過程中,空氣不會循環(huán)并與空氣混合。一般為橢圓形或圓形氣泡。
松散度:通常,由于鑄件的不合理設(shè)計,它出現(xiàn)在內(nèi)部較薄的壁上,顯示出線狀缺陷,看起來像云。
裂紋:大多數(shù)出現(xiàn)在形狀復(fù)雜的鑄件中。在熱處理過程中,由于較高的溫度膨脹而發(fā)生收縮。