一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機物

一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

X熒光測厚儀相關注意事項：

　　儀器供電電壓必須與儀器品牌上的電壓一致.儀器三線插頭必須連接到已接地的插座上。

　　本儀器為精密儀器,配備的穩(wěn)壓電源.計算機應配備不間斷電源(UPS)。

　　儀器應特別注意與存在電磁的場合隔離開來。

　　為避免短路,嚴禁儀器與液體直接接觸,如果液體進入儀器,請立即關閉儀器。

　　本儀器不能用于酸性環(huán)境和場合。

　　不要弄臟和刮擦調(diào)校標準片,否則會造成讀數(shù)錯誤。

　　不要用任何機械或化學的方法清除調(diào)校片上的臟物,可以用不起毛的布輕輕擦拭。

江蘇一六儀器  X射線熒光光譜測厚儀

性能特點

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自動定位測試高度

定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊

鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點

高分辨率探頭使分析結果更加精準

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳感器保護

      江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀

      X射線熒光光譜測厚儀定量分析

利用熒光X射線進行定量分析的時候，大致分為3個方法。一個是制作測量線的方法(經(jīng)驗系數(shù)法)。這個方法是測定幾點實際的已知濃度樣品，尋求想測定元素的熒光X射線強度和濃度之間的關系，以其結果為基礎測定未知樣品取得熒光X射線，從而得到濃度值。

      另一個方法是理論演算的基礎參數(shù)法(FP法)。這個方法在完全了解樣品的構成和元素種類前提，利用計算的各個熒光X射線強度的理論值，推測測定得到未知樣品各個元素的熒光X射線強度的組成一致。