從2013年成立至今，廣州景頤光電科技有限公司植根于科研領(lǐng)域，，輻射全國包括、清華大學(xué)、復(fù)旦大學(xué)、上海交通大學(xué)、南京大學(xué)、浙江大學(xué)等眾多高校。

在科研領(lǐng)域，我們已經(jīng)服務(wù)超過一百多個實驗室，我們希望將積累的光譜儀及光譜測量技術(shù)創(chuàng)新性地應(yīng)用于材料、物理、化學(xué)、生物、微納光子學(xué)等學(xué)科領(lǐng)域

目前景頤光電自主研發(fā)生產(chǎn)的微型光纖光譜儀完全可以與國際前沿技術(shù)相抗衡并實現(xiàn)完全國產(chǎn)化，為民族事業(yè)的進步貢獻出綿薄之力！成功來源于自信和努力，但我們懈怠，不斷開發(fā)、探索和創(chuàng)新是景頤光電永遠的追求。 以技術(shù)服務(wù)和專業(yè)技術(shù)口碑，打造國際國內(nèi)光譜儀生產(chǎn)民族企業(yè)！

有漫射板時，照明更均勻，亮度有所下降。無漫射板時，可以看到較明顯的燈珠成像，而有漫射板時則反射面表面的比較均勻。如果選擇高透光低磨砂的漫射板，燈珠顆粒感有所下降；而使用低透光高磨砂漫射板，燈珠顆粒感更低，

所有材料在200 - 2500 nm的波長范圍內(nèi)的光學(xué)平面度達 /- 4%，該值在光譜的適光范圍內(nèi)為 /- 1%。標準漫反射參考白板具有高朗伯特性，其中反射材料是在250 -2500 nm的波長范圍內(nèi)常用的朗伯反射體。

廣州景頤光電科技有限公司擁有一支由光機電軟算工程師和應(yīng)用服務(wù)成員組成的團隊，廣州景頤光電科技有限公司是一家高新技術(shù)企業(yè)，是中國的光譜分析設(shè)備公司。

在工業(yè)檢測方面，我們已經(jīng)在光伏行業(yè)、LED行業(yè)、大氣/水質(zhì)監(jiān)測等領(lǐng)域為多家單位提供了建設(shè)性的解決方案，幫助客戶快速開發(fā)和產(chǎn)品對接。

公司成立以來，公司一直持續(xù)關(guān)注光電類前沿的技術(shù)產(chǎn)品，始終追求的內(nèi)在品質(zhì)和盡善盡美的服務(wù)，不斷加強和國內(nèi)外公司及各專業(yè)領(lǐng)域內(nèi)專業(yè)人才的交流和合作。公司不僅為用戶提供國外原廠生產(chǎn)的各類標準產(chǎn)品，而且致力于根據(jù)用戶的具體要求，提供完整的系統(tǒng)解決方案，包括設(shè)計、生產(chǎn)、集成和二次開發(fā)等。

公司每年定期安排技術(shù)服務(wù)工程師參加各類技術(shù)培訓(xùn)，購買相應(yīng)的零配件，力爭做到絕大部分的主品維修本地化，免除由于路程往返造成的時間、費用和工作效率上的損失。

標準漫反射參考白板可單獨或以套裝形式供應(yīng)，后者由一塊標準漫反射白板及精選的標準漫反射灰板組成。 所有的反射比校準測試都在景頤光電公司的反射光譜實驗室進行。

漫反射板

將光源變成平行光后直接照射在安裝于兩維轉(zhuǎn)臺上的漫反射板上，利用帶有干涉濾光片的探測器測量漫反射板的反射光，轉(zhuǎn)動兩維轉(zhuǎn)臺，即可獲得干涉濾光片透射波長的漫反射板角反射率特性。該裝置的優(yōu)點是結(jié)構(gòu)簡單，雜散光影響較??；缺點是測量波長受干涉濾光片透射中心波長的限制，每次只能進行單一光譜波長漫反射板角反射特性的測量。即使采用多個探測器也只能進行少數(shù)幾個分離波長的測量，而且這也加重了轉(zhuǎn)動部件的重量，使測量系統(tǒng)變得復(fù)雜。

利用漫反射板 BRDF 測量裝置測量，這類裝置的工作原理是將連續(xù)光源發(fā)出的光經(jīng)聚光鏡聚焦到單色儀的入射狹縫上，單色儀將連續(xù)光源發(fā)出的光分光，從單色儀出射狹縫的輸出即為所要求光譜分辨率的單色光，此單色光經(jīng)準直光學(xué)部件準直后變成平行光照射在安裝于兩維轉(zhuǎn)臺上的待測漫反射板上，同樣由兩維轉(zhuǎn)臺的轉(zhuǎn)動，即可獲得單色儀輸出波長漫反射板的角反射特性。掃描單色儀的色散元件，可改變單色儀輸出波長，從而可獲得設(shè)計光譜范圍內(nèi)漫反射板的雙向反射函數(shù)分布函數(shù)。該方法的優(yōu)點是克服了上述方法只能進行單波長測量的缺點，可以獲得較寬光譜范圍內(nèi)不同波長的角譜反射特性。缺點是光源經(jīng)過分光、多次反射和折射變成平行光照射在漫反射板上，已經(jīng)變得很微弱，必須對照射在漫反射板上的雜散光嚴格控制。這增加了系統(tǒng)的復(fù)雜性；否則由于外部雜散光的干擾，將會大大降低測量精度。