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NDC X射線高能測厚儀TVXR-2的測量原理
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NDC X射線高能測厚儀于x射線和同位素測量領(lǐng)域
NDC X射線高能測厚儀測量原理
NDC X射線高能測厚儀通過準(zhǔn)確測量穿透金屬的一定能量束(X射線或同位素)的衰減量來測量厚度。由于傳感器固有的特性源于射線源和檢測器的設(shè)計,NDC X射線高能測厚儀根本無需標(biāo)定樣板和測量目標(biāo)的偏差。正是這種高度穩(wěn)定性使得所有的傳感器(X-射線或同位素)得以在工廠完成一次性校正’并且提供覆蓋全量程范圍的一致精度而不只是“在”或“靠近”目標(biāo)的厚度。人機接口(HMl)以圖表的形式顯示系統(tǒng)數(shù)據(jù)和狀態(tài),如趨勢圖、立面圖和直方圖等。
NDC X射線高能測厚儀提供每一個等級的合金補償曲線。作為選項,全物理模式在已知化學(xué)成分的基礎(chǔ)上通過計算獨特的補償曲線來獲得更高的精度。
NDC X射線鍍層測量儀FVXR-1的測量原理
北京中達信泰科技有限公司專業(yè)供應(yīng)NDC測厚儀,我們?yōu)槟治鲈摦a(chǎn)品的以下信息。
NDC FVXR-1 測量儀利用X射線束激發(fā)金屬能或熒光來測量金屬涂層。金屬涂層原子吸收這些X射線后,帶有一定能量的光子從原子力釋放出來。釋放光子所需能量的大小取決于涂料的多少,一個環(huán)形離子室被用來接收這些能量并將之轉(zhuǎn)換為一個信號,測量儀計算機在高頻下處理這個信號來測量涂層重量。4、薄膜測厚儀:用于測定薄膜、薄片等材料的厚度,測量范圍寬、測量精度高,具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動斷電等特點。
NDC X射線鍍層測量儀FVXR-1元件介紹
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傳感器元件根據(jù)被測涂料的不同來優(yōu)化和標(biāo)定。測量儀是用在實驗室測量從生產(chǎn)線取得的真實樣品來標(biāo)定的。每一種涂料都有其特定的標(biāo)定曲線。
NDC FVXR-1 測量儀的設(shè)計利用有效的離子室,對信號處理計算機長距離均勻放大及傳輸?shù)臏y量信號來保證在低時間常數(shù)(10ms)上的低統(tǒng)計干擾。