掃描隧道顯微鏡分辨率極高

掃描隧道顯微鏡分辨率極高，水平方向達到0.2納米，垂直方向更達到0.001納米，可以給出樣品表面原子尺度的信息。我們知道，一個原子的典型線度是0.3納米。對于單個原子成像來說，這樣的分辨率已經(jīng)是足夠了。掃描隧道顯微鏡的發(fā)明，促進了生物科學、表面物理、半導體材料和工藝、化學作用的研究。掃描隧道顯微鏡技術(shù)還在繼續(xù)發(fā)展。例如，為了彌補掃描隧道顯微鏡只能對導體和半導體進行成像和加工這個缺陷，研制出能在納米尺度對絕緣體進行成像和加工的原子力顯微鏡。

正置與倒置金相顯微鏡的區(qū)別

了解正置與倒置金相顯微鏡的主要區(qū)別： 倒置金相顯微鏡:主要適用對各種金屬和合金材料的組織結(jié)構(gòu)、鑄件質(zhì)量以及熱處理后相位組織進行研究分析工作，是金屬學研究的必備儀器，由于試樣的觀察面倒置不受高度限制，在制備試樣時只要一個觀察面平整即可。 正置金相顯微鏡具有和倒置金相顯微鏡同樣的基本功能，因此更廣泛的應用于透明，半透明或不透明物質(zhì)。大于3 微米小于20微米觀察目標，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、痕跡，都能有很好的成像效果。

取樣原則用金相顯微鏡對金屬的一小部分進行金相研究

取樣原則 用金相顯微鏡對金屬的一小部分進行金相研究，其成功與否，可以說首先取決所取試樣有無代表性。在一般情況下，研究金屬及合金顯微組織的金相試樣應從材料或零件在使用中 的部位截?。换蚴瞧?、夾雜等缺陷嚴重的部位截取。在分析失效原因時，則應在 失效的地方與完整的部位分別截取試樣，以探究其失效的原因。對于生長較長裂紋的部件， 則應在裂紋發(fā)源處、擴展處、裂紋尾部分別取樣，以分析裂紋產(chǎn)生的原因。研究熱處理后的 零件時，因組織較均勻，可任選一斷面試樣。若研究氧化、脫碳、表面處理（如滲碳）的情況， 則應在橫斷面上觀察。有些零部件的“重要部位”的選擇要通過對具體服役條件的分析才能 確定。