數(shù)字IC前端后端的區(qū)別？

數(shù)字字IC就是傳遞、加工、處理數(shù)字信號的IC，是近年來應(yīng)用廣、發(fā)展快的IC品種，可分為通用數(shù)字IC和專用數(shù)字IC。

數(shù)字前端以設(shè)計架構(gòu)為起點，以生成可以布局布線的網(wǎng)表為終點；Region(II)被稱為使用期（Usefullifeperiod）在這個階段產(chǎn)品的failurerate保持穩(wěn)定，失效的原因往往是隨機的，比如溫度變化等等。是用設(shè)計的電路實現(xiàn)想法；主要包括：基本的RTL編程和，前端設(shè)計還可以包括IC系統(tǒng)設(shè)計、驗證(verification)、綜合、STA、邏輯等值驗證 (equivalence check)。其中IC系統(tǒng)設(shè)計難掌握，它需要多年的IC設(shè)計經(jīng)驗和熟悉那個應(yīng)用領(lǐng)域，就像軟件行業(yè)的系統(tǒng)架構(gòu)設(shè)計一樣，而RTL編程和軟件編程相當(dāng)。

數(shù)字后端以布局布線為起點，以生成可以可以送交foundry進(jìn)行流片的GDS2文件為終點；是將設(shè)計的電路制造出來，在工藝上實現(xiàn)想法。主要包括：后端設(shè)計簡單說是P&R，像芯片封裝和管腳設(shè)計，floorplan，電源布線和功率驗證，線間干擾的預(yù)防和修 正，時序收斂，自動布局布線、STA，DRC，LVS等，要求掌握和熟悉多種EDA工具以及IC生產(chǎn)廠家的具體要求。測試條件:在特定時間內(nèi)動態(tài)提升溫度和電壓對產(chǎn)品進(jìn)行測試失效機制：材料或工藝的缺陷，包括諸如氧化層缺陷，金屬刻鍍，離子玷污等由于生產(chǎn)造成的失效。

數(shù)字IC驗證綜合知識

接口的強大功能：一是簡化模塊之間的連接；二是實現(xiàn)類和模塊之間的通信。可以說接口的功能固然強大，但是問題又來了：

首先，因為事務(wù)交易處理器中的方法采用了層次化應(yīng)用的方式去訪問對應(yīng)端口的信號，所以我們只能為兩個相同功能的接口分別編寫兩個幾乎一樣的事務(wù)交易處理器，為什么呢？因為采用的是層次化的應(yīng)用，假如設(shè)計中的某個引腳名字需要修改，我們只能修改驅(qū)動這個端口的方法！Herculus具有進(jìn)行層次設(shè)計的成熟算法，進(jìn)行flatprocessing的優(yōu)化引擎和自動確定如何進(jìn)行每個區(qū)域數(shù)據(jù)處理的能力—這些技術(shù)縮短了運行時間，提高了驗證的度。這樣還是有點繁瑣，那么sv中有了虛接口的概念，事情就會變得更加簡單了！

到底是如何操作的呢？

虛接口和對應(yīng)的通用方法可以把設(shè)計和驗證平臺分隔開來，保證其不受設(shè)計改動的影響。當(dāng)我們對一個設(shè)計的引腳名字進(jìn)行改動的時候，我們無須改動驅(qū)動這個接口的方法，而是只需要在例化該事務(wù)交易處理器的時候，給虛接口綁定對應(yīng)連接的實體接口即可。它與VCS一樣采用了革命性的模擬技術(shù)，即在同一個模擬器中把節(jié)拍式模擬技術(shù)與事件驅(qū)動的模擬技術(shù)結(jié)合起來。以此來實現(xiàn)事務(wù)交易處理器的更大重用性。

虛接口的定義：

virtual interface_type variable;

虛接口可以定義為類的一個成員，可以通過構(gòu)造函數(shù)的參數(shù)或者過程進(jìn)行初始化。

虛接口應(yīng)用的具體步驟：

到此，我們就可以在事務(wù)交易處理器中，編寫針對該接口的通用方法（如request和wait_for_bus），只要針對虛接口進(jìn)行操作就可以，而該虛接口不針對特定的具體器件，只有在事務(wù)交易處理器的對象例化創(chuàng)建時，根據(jù)具體傳遞給他參數(shù)確定。

數(shù)字系統(tǒng)實時驗證

在利用MP3C硬件平臺的基礎(chǔ)上搭建驗證平臺來實現(xiàn)對數(shù)字系統(tǒng)的驗證,根據(jù)該系統(tǒng)的特點,完成了軟硬件驗證平臺的構(gòu)建和軟件的配置。該驗證系統(tǒng)主要是由APTIX MP3C系統(tǒng)、Spartan-IIE FPGA和相應(yīng)的EDA軟件等組成。 主要對驗證的整體方案以及系統(tǒng)各個模塊的功能和實現(xiàn)進(jìn)行了深入的分析。1奈米，在10奈米的情況下，一條線只有不到100顆原子，在制作上相當(dāng)困難，而且只要有一個原子的缺陷，像是在制作過程中有原子掉出或是有雜質(zhì)，就會產(chǎn)生不的現(xiàn)象，影響產(chǎn)品的良率。介紹了IC設(shè)計的流程和IC驗證的重要性;并對MP3C的FPCB和FPIC等模塊以及Spartan-IIE開發(fā)板的FPGA、I/O和接口等模塊的性能和使用方法進(jìn)行了詳細(xì)說明。

然后提出了以MP3C為核心的快速數(shù)字系統(tǒng)驗證的硬件平臺實現(xiàn)方法,其中激勵產(chǎn)生和數(shù)據(jù)采集觀察是通過在一塊評估板中來實現(xiàn);在EXPLORER軟件中完成整個系統(tǒng)的搭建、FPGA的布局布線和FPCB的編譯。并且根據(jù)這一方法實現(xiàn)了對復(fù)雜數(shù)字系統(tǒng)FFT進(jìn)行驗證,后得出了正確的結(jié)果,證明這一方法是切實有效的。設(shè)計和驗證是反復(fù)迭代的過程，直到驗證結(jié)果顯示完全符合規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)。此方法能縮短IC開發(fā)周期,提高IC驗證的效率,對將來IC發(fā)展來說很具有實際意義。