數(shù)字ic后端設(shè)計（三)

9. Dummy metal的增加。

　　Foundry廠都有對金屬密度的規(guī)定，使其金屬密度不要低于一定的值，以防在芯片制造過程中的刻蝕階段對連線的金屬層過度刻蝕從而降低電路的性能。加入Dummy metal是為了增加金屬的密度。

　　10. DRC和LVS。

　　DRC是對芯片版圖中的各層物理圖形進(jìn)行設(shè)計規(guī)則檢查(spacing ,width)，它也包括天線效應(yīng)的檢查，以確保芯片正常流片。因為采用的是層次化的應(yīng)用，假如設(shè)計中的某個引腳名字需要修改，我們只能修改驅(qū)動這個端口的方法。LVS主要是將版圖和電路網(wǎng)表進(jìn)行比較，來保證流片出來的版圖電路和實際需要的電路一致。DRC和LVS的檢查--EDA工具 Synopsy hercules/ mentor calibre/ CDN Dracula進(jìn)行的.Astro also include LVS/DRC check commands.

　　11. Tape out。

　　在所有檢查和驗證都正確無誤的情況下把后的版圖GDSⅡ文件傳遞給Foundry廠進(jìn)行掩膜制造。

深圳瑞泰威科技有限公司是國內(nèi)IC電子元器件的代理銷售企業(yè)，專業(yè)從事各類驅(qū)動IC、存儲IC、傳感器IC、觸摸IC銷售，品類齊全，具備上百個型號。

數(shù)字IC測試儀的研究

隨著集成電路技術(shù)的飛速發(fā)展,集成電路的測試技術(shù)已成為集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展重要支撐之一,也是保證集成電路性能、質(zhì)量的關(guān)鍵手段之一。綜合需要設(shè)定約束條件，就是你希望綜合出來的電路在面積，時序等目標(biāo)參數(shù)上達(dá)到的標(biāo)準(zhǔn)。目前,集成電路測試儀一般價格比較高,但在電子實驗室的實驗中經(jīng)常需要測試中、小規(guī)模數(shù)字IC好壞,數(shù)字集成電路的測試又是一項經(jīng)常性的工作,所以,自己設(shè)計一臺經(jīng)濟(jì)實用的集成電路測試儀是非常必要的。 

研究了國內(nèi)外集成電路測試技術(shù),提出了基于單片機(jī)系統(tǒng)的數(shù)字IC測試儀的設(shè)計,設(shè)計包括硬件系統(tǒng)設(shè)計和軟件系統(tǒng)設(shè)計。的重點是硬件系統(tǒng)電路設(shè)計。時鐘樹插入后，每個單元的位置都確定下來了，工具可以提出GlobalRoute形式的連線寄生參數(shù)，此時對參數(shù)的提取就比較準(zhǔn)確了。設(shè)計包括AT89C52單片機(jī)的選擇,可編程I/O接口,電源系統(tǒng)、鍵盤、復(fù)位電路,LED顯示接口CH451,計算機(jī)與單片機(jī)串行通信接口MAX232,測試插座接口,上位計算機(jī)等。硬件系統(tǒng)各功能單元電路的設(shè)計全部采用模塊化,每部分電路的選擇都經(jīng)過比較和優(yōu)化設(shè)計,便于以后硬件的升級。 針對單片機(jī)電源電路帶負(fù)載能力的擴(kuò)流和測試插座接口電路的設(shè)計及數(shù)字IC測試向量編碼方法等方面進(jìn)行了改進(jìn),提高了硬件系統(tǒng)的可靠性,簡化了軟件編程,并借助EDA技術(shù)進(jìn)行了驗證。

數(shù)字集成電路電流測試

集成電路(IC)被生產(chǎn)出來以后要進(jìn)行測試?，F(xiàn)將目前較為流行的測試方法加以簡單歸類和闡述，力求達(dá)到拋磚引玉的作用。IC測試貫穿在IC設(shè)計、制造、封裝及應(yīng)用的全過程,被認(rèn)為是IC產(chǎn)業(yè)的4個分支(設(shè)計、制造、封裝與測試)中一個極為重要的組成部分,它已經(jīng)成為IC產(chǎn)業(yè)發(fā)展中的一個瓶頸。有人預(yù)計,到2012年,可能會有多達(dá)48%的好芯片不能通過測試,IC測試所需的費用將在IC設(shè)計、制造、封裝和測試的總費用中占80%～90%的比例。 工業(yè)界常采用電壓測試和穩(wěn)態(tài)電流(I_(DDQ))測試來測試數(shù)字CMOS IC。

電壓測試包括邏輯測試和時延測試兩方面的測試內(nèi)容,前者驗證IC的功能是否正確,后者驗證IC的時間特性是否正確。電壓測試方法可以檢測出大量的物理缺陷,而且比較簡單,速度較快。此外，模擬IC關(guān)鍵的是低失真和高信噪比，這兩者都是在高電壓下比較容易做到的。但是,由于電壓測試所使用的故障模型存在局限性,而且測試常常不能全速進(jìn)行,因此一般來說,電壓測試只善于驗證電路的功能。與電壓測試相比,(I_(DDQ))測試更善于檢測由于生產(chǎn)過程中的細(xì)微偏差而導(dǎo)致的一些“小”缺陷,它的優(yōu)點是能大幅度地降低測試數(shù)字CMOS IC的費用,提高它們的可靠性。但是,(I_(DDQ))測試除不能檢測那些不導(dǎo)致(I_(DDQ))增加的缺陷或故障(如串?dāng)_故障)之外,還受到深亞微米技術(shù)的挑戰(zhàn)。

 瞬態(tài)電流(I_(DDT))測試是一種從供電回路,通過觀察被測電路所吸取的瞬間動態(tài)電流來檢測故障的一種方法,被認(rèn)為可以檢測出一些經(jīng)電壓測試和(I_(DDQ))測試所不能檢測的故障。DB文件獲得網(wǎng)表和時序約束信息進(jìn)行自動放置標(biāo)準(zhǔn)單元，同時進(jìn)行時序檢查和單元放置優(yōu)化。這種方法作為傳統(tǒng)的電壓測試和(I_(DDQ))測試方法的一個補(bǔ)充,正逐漸受到研究領(lǐng)域和工業(yè)界的關(guān)注。 (I_(DDT))測試研究雖然進(jìn)行了近10年的時間,但目前仍處在初級階段,所面臨的問題很多,離實際應(yīng)用還有相當(dāng)一段距離。本研究采用基于積分的平均電流分析法來研究(I_(DDT))測試,進(jìn)行了一些有益的探索性工作。

數(shù)字IC測試系統(tǒng)的發(fā)展

隨著數(shù)字集成電路性能的不斷提高,數(shù)字集成電路測試系統(tǒng)也相應(yīng)得到了迅速發(fā)展。它與VCS一樣采用了革命性的模擬技術(shù)，即在同一個模擬器中把節(jié)拍式模擬技術(shù)與事件驅(qū)動的模擬技術(shù)結(jié)合起來。主要表現(xiàn)在以下幾方面: 測試通道數(shù)增加數(shù)字電路集成度的不斷提高和專用集成電路的出現(xiàn),器件的引腳數(shù)不斷增加,使得數(shù)字測試系統(tǒng)的測試通道數(shù)相應(yīng)不斷增加。由測試中、小規(guī)模集成電路的24通道測試系統(tǒng),測試大規(guī)模集成電路的48通道、64通道測試系統(tǒng)發(fā)展到測試超大規(guī)模集成電路的128通道、256通道甚至更多通道數(shù)的測試系統(tǒng)。

深圳瑞泰威科技有限公司是國內(nèi)IC電子元器件的代理銷售企業(yè)，專業(yè)從事各類驅(qū)動IC、存儲IC、傳感器IC、觸摸IC銷售，品類齊全，具備上百個型號。與國內(nèi)外的東芝、恩智浦、安森美、全宇昕、上海晶準(zhǔn)等均穩(wěn)定合作，保證產(chǎn)品的品質(zhì)和穩(wěn)定供貨。I/OPad預(yù)先給出了位置，而宏單元則根據(jù)時序要求進(jìn)行擺放，標(biāo)準(zhǔn)單元則是給出了一定的區(qū)域由工具自動擺放。自公司成立以來，飛速發(fā)展，產(chǎn)品已涵蓋了工控類IC、光通信類IC、無線通信IC、消費類IC等行業(yè)。