大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

本設(shè)備是利用瞬間多通道測光光譜儀以及偏光光學(xué)系高速測量透過型封入完成后的LCD Cell（TN,IPS,MVA）的Gap以及Pre-tilt角。附有自動XY-stage以及自動傾斜旋轉(zhuǎn)stage的2個(gè)Sample stage。Calibration時(shí)，自動set基準(zhǔn)sample。

測定haze補(bǔ)正用樣品（與被測定樣品相同haze特性AG-TAC）,取得其補(bǔ)正table. 反復(fù)性能。(保證值)是利用本裝置附屬的基準(zhǔn)樣本(偏光板)的測量結(jié)果（0.1s間隔 定點(diǎn)15回連續(xù)測量）。將粘貼面有漏出的樣品貼合與樣品治具上，反轉(zhuǎn)治具測定，玻璃上貼附樣品的場合，將超出部分的film定位與基準(zhǔn)面，只反轉(zhuǎn)樣品進(jìn)行測定。因本系統(tǒng)為精密光學(xué)測定裝置，作為設(shè)置場所，請考慮以下條件。

本裝置是photonic結(jié)晶偏光子arrayh和CCD camera構(gòu)成的專用偏光計(jì)測模組和透過偏光光學(xué)系相結(jié)合進(jìn)行測定橢圓率，方位角、從偏光film.位相差film貼合品的兩面之測定，進(jìn)而演算其吸收軸，光軸，相對角、RE的裝置。