氦質(zhì)譜檢漏儀（Helium Mass SpectrometerLeakDetector）為氣體工業(yè)名詞術(shù)語，用氦氣或者氫氣作示漏氣體，以氣體分析儀檢測(cè)氦氣而進(jìn)行檢漏的質(zhì)譜儀。氦氣的本底噪聲低，分子量及粘滯系數(shù)小，因而易通過漏孔并易擴(kuò)散；另外，氦系惰性氣體，不腐蝕設(shè)備，故常用氦作示漏氣體。將這種氣體噴到接有氣體分析儀（調(diào)整到僅對(duì)氦氣反應(yīng)的工作狀態(tài)）的被檢容器上，若容器有漏孔，則分析儀即有所反應(yīng)，從而可知漏孔所在及漏氣量大小。

氦質(zhì)譜檢漏方式 氦質(zhì)譜檢漏技術(shù)性是真空泵檢漏行業(yè)里必不可少的一種技術(shù)性，因?yàn)闄z漏率，簡(jiǎn)單易實(shí)際操作，儀器設(shè)備反映靈巧，，不容易受別的氣體的干撓，在電阻爐檢漏中獲得了廣泛運(yùn)用。氦質(zhì)譜檢漏儀是依據(jù)質(zhì)譜學(xué)基本原理，用氦氣作示漏氣體做成的氣密性檢測(cè)儀器。由離子源、分析器、采l集器、冷陰極弱電解質(zhì)規(guī)構(gòu)成的質(zhì)譜室和抽真空系統(tǒng)軟件及電氣設(shè)備一部分等構(gòu)成。質(zhì)譜房?jī)?nèi)的燈絲發(fā)射點(diǎn)出去的電子器件，在房間內(nèi)往返地l震蕩，并與房間內(nèi)氣體和經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)孔板進(jìn)到房間內(nèi)的氦氣互相撞擊使其弱電解質(zhì)成正離子，這種氦電離在加快靜電場(chǎng)功效下進(jìn)到電磁場(chǎng)，因?yàn)槁鍌惼澚πг斐善疲a(chǎn)生圓弧狀路軌，更改加快工作電壓可讓不一樣品質(zhì)的電離根據(jù)電磁場(chǎng)和接受縫抵達(dá)接受極而被檢驗(yàn)。噴氦法、吸氦法是氦質(zhì)譜檢漏儀在電阻爐檢漏中l(wèi)常見的二種方式 。

氣密性檢測(cè)行業(yè)的IP防水等級(jí)簡(jiǎn)介

IPXX防護(hù)等級(jí)是由兩個(gè)數(shù)字所組成，個(gè)數(shù)字表示防塵、防止外物侵入的等級(jí)，第2個(gè)數(shù)字表示防濕氣、防水浸入的密閉程度，數(shù)字越大表示其防護(hù)等級(jí)越高。

以代碼IP54 為例：

IP 表明這是標(biāo)準(zhǔn)型的

5 表明固體中的防護(hù)等級(jí)

4 表明液體中的防護(hù)等級(jí)

第l一特性

防護(hù)等級(jí)（代碼中的第l一個(gè)數(shù)字）

簡(jiǎn)要描述定義

0 無防護(hù)

1 防直徑為50mm 甚至更大的固體顆粒物物體尖l端或50mm 直徑的固體顆粒物不能完全穿透。

2 防直徑為12.5mm 甚至更大的固體顆粒物物體尖l端或12.5mm 直徑的固體顆粒物不能完全穿透。

3 防直徑為2.5mm 甚至更大的固體固體顆粒物物體尖l端或2.5mm 直徑的固體顆粒物完全不能穿透。

4 防直徑為1mm 甚至更大的固體固體顆粒物物體尖l端或1mm 直徑的固體顆粒物完全不能穿透。

5 灰塵防護(hù)：并不能完全防止塵埃進(jìn)入，但不會(huì)達(dá)到妨礙儀器正常運(yùn)轉(zhuǎn)及降低安全性的程度。

6 灰塵禁錮：塵埃無法進(jìn)入物體整個(gè)直徑不能超過外殼的空隙

    氣密性檢測(cè)制造行業(yè)的IP防水級(jí)別介紹IPX5方式 名字：噴水試驗(yàn)試驗(yàn)設(shè)備：噴頭的噴水口公稱直徑為6。3mm試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：使試驗(yàn)樣品至噴水口距離為2。5m～3m，水流量為12。5L/min(750L/h)試驗(yàn)時(shí)間：按被檢樣品機(jī)殼面積測(cè)算，每平方米為1min(不包含安裝總面積)至少3minIPX6方式 名字：明顯噴水試驗(yàn)；試驗(yàn)設(shè)備：噴頭的噴水口公稱直徑為12。5mm試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：使試驗(yàn)樣品至噴水口距離為2。5m～3m，水流量為100L/min(6000L/h)試驗(yàn)時(shí)間：按被檢樣品機(jī)殼面積測(cè)算，每平方米為1min（不包含安裝總面積）至少3min