EMC測(cè)試介紹

EMC測(cè)試分為電磁干擾EMI和電磁敏感性，即抗干擾EMS，靜電放電抗擾度是EMS中的一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目，因?yàn)閹ъo電的物體進(jìn)行放電時(shí)會(huì)產(chǎn)生放電電流，這個(gè)放電電流會(huì)產(chǎn)生短暫的強(qiáng)度很大的電磁場(chǎng)。放電時(shí)產(chǎn)生短暫的放電電流和相應(yīng)的電磁場(chǎng)可能引起電氣、電子設(shè)備的電路發(fā)生故障，甚至損壞。靜電放電試驗(yàn)的目的就是檢驗(yàn)電氣、電子設(shè)備在遭受這類靜電放電騷擾時(shí)的性能。

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關(guān)于EMC的常見(jiàn)縮略語(yǔ)介紹

EMC (Electromagnetic Compatibility)：電磁兼容性

EMI (Electromagnetic Interference)：電磁干擾

EMS (Electromagnetic Susceptibility)：電磁抗擾度

OATS (Open Area Test Site) ：開(kāi)闊場(chǎng)

EUT (Equipment Under Test)：受試設(shè)備

CE：字母 'CE' 是法文句子 'Conformité Européene' 的縮寫(xiě)，意指歐盟。

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防治電磁兼容措施

抑制電磁污染的首要措施是找出污染源；其次是判斷污染侵入的路途，主要有傳導(dǎo)和輻射兩種方式，工作重點(diǎn)是確定干擾量。解決電磁兼容問(wèn)題應(yīng)從產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)階段開(kāi)始，并貫穿于整個(gè)產(chǎn)品或系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)，生產(chǎn)全過(guò)程。國(guó)內(nèi)外大量的經(jīng)驗(yàn)表明，在產(chǎn)品或系統(tǒng)的研制生產(chǎn)過(guò)程中越早注意解決電磁兼容問(wèn)題，越可以節(jié)約人力與物力。

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