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究竟什么是化工容器無損檢測(cè)品牌
我們大多數(shù)人可能聽過射線探傷,但是究竟射線探傷是什么,它是怎么形成的,它應(yīng)用在哪個(gè)領(lǐng)域,我們是不熟悉的,下面小編呢,就給大家簡(jiǎn)單的做個(gè)介紹,希望能幫助到大家。射線探傷是利用某種射線來檢查焊縫內(nèi)部缺陷的一種方法,常用的射線有X射線和γ射線兩種。X射線和γ射線還是有所不同的,我給大家簡(jiǎn)單的來區(qū)分一下。對(duì)于表面淺劃傷、埋藏較深洞和與工件表面夾角小于20°的分層和折疊很難發(fā)現(xiàn)。
其中,γ射線能透照300mm厚的鋼板,透照時(shí)不需要電源,方便野外工作,環(huán)縫時(shí)可一次曝光,但透照時(shí)間長(zhǎng),不宜用于小于50mm構(gòu)件的透照。X射線透照時(shí)間短、速度快,檢查厚度小于30mm時(shí),顯示缺陷的靈敏度高,但設(shè)備復(fù)雜、費(fèi)用大,穿透能力比γ射線小。探測(cè)面的修整:應(yīng)清除焊接工作表面飛濺物、氧化皮、凹坑及銹蝕等2。
X射線和γ射線能不同程度地透過金屬材料,對(duì)照相膠片產(chǎn)生感光作用。利用這種性能,當(dāng)射線通過被檢查的焊縫時(shí),因焊縫缺陷對(duì)射線的吸收能力不同,使射線落在膠片上的強(qiáng)度不一樣,膠片感光程度也不一樣,這樣就能準(zhǔn)確、可靠、非破壞性地顯示缺陷的形狀、位置和大小。射線層析檢測(cè)技術(shù):膠片層析射線照相技術(shù)、射線層析檢測(cè)、康普頓散射成像檢測(cè)。
不知道大家通過我的簡(jiǎn)單介紹,對(duì)射線探傷有沒有進(jìn)一步的了解,還有任何問題可以隨時(shí)和我們交流。
超聲波檢測(cè)的用途、范圍
超聲檢測(cè)用途綜述
可以快速便捷、無損傷、地進(jìn)行工內(nèi)部多種缺陷(裂紋、夾雜、氣孔等)的檢測(cè)、定位、評(píng)估和診斷。
超聲檢測(cè)適用范圍
超聲檢測(cè)適用范圍很廣,從檢測(cè)對(duì)象的材料來說,可適用于各種金屬和非金屬材料。
以金屬材料的制造工藝來說,可以是鍛件、鑄件、焊接件、膠結(jié)件、復(fù)合材料構(gòu)件等
以金屬材料的形狀來說,可以是板材、棒材、管材等;
以金屬材料的尺寸來說,厚度可以從0.2毫米到幾十米(有時(shí)由于結(jié)構(gòu)限制,可能檢測(cè)尺寸只能很?。?
既可以是內(nèi)部缺陷,也可以是表面缺陷。
什么是近表面缺陷
近表面缺陷的檢測(cè)在無損檢測(cè)中是一個(gè)傳統(tǒng)而典型的研究課題。
近表面缺陷的檢測(cè)方法很多,比如,脈沖超聲波反射法、磁粉探傷法、渦流檢測(cè)方法、磁記憶檢測(cè)法、漏磁檢測(cè)法、磁懸液檢測(cè)法、爬波檢測(cè)法、表面波檢測(cè)法及熱像圖法等。這些方法一般都有各自的測(cè)試對(duì)象及測(cè)試環(huán)境要求,沒有一種可用于任何測(cè)試場(chǎng)合的通用方法。這也是多種方法并存的原因。在脈沖超聲反射檢測(cè)法中,靠近介質(zhì)界面的缺陷被淹沒在回波信號(hào)中,很難有效分離,導(dǎo)致測(cè)量盲區(qū)的存在。從信號(hào)時(shí)域的角度考慮,就是信號(hào)在時(shí)域的到達(dá)時(shí)刻比較接近,一個(gè)信號(hào)還沒有結(jié)束,而另一個(gè)信號(hào)已經(jīng)到達(dá)。在缺陷的超聲檢測(cè)中,出現(xiàn)這種現(xiàn)象主要有以下兩種情況。若主要采用化學(xué)和物理方法(特別是后的測(cè)定階段常應(yīng)用物理方法),一般采用儀器來獲得分析結(jié)果,稱為儀器分析。種情況是,傳感器發(fā)射的脈沖超聲波耦合到接收電路產(chǎn)生的信號(hào)還沒有結(jié)束,近表面缺陷的超聲回波就已到達(dá)。這時(shí),放大電路尚未正常工作,使缺陷回波信號(hào)變小,且兩信號(hào)混疊在一起,導(dǎo)致近表面缺陷無法檢出。
磁粉檢測(cè)的工作原理和特點(diǎn)
磁粉探傷(檢測(cè))原理磁粉檢測(cè),是通過對(duì)被檢工件施加磁場(chǎng)使其磁化(整體磁化或局部磁化),在工件的表面和近表面缺陷處將有磁力線逸出工件表面而形成漏磁場(chǎng),有磁極的存在就能吸附施加在工件表面上的磁粉形成聚集磁痕,從而顯示出缺陷的存在。
磁粉檢測(cè)方法應(yīng)用比較廣泛,主要用以探測(cè)磁性材料表面或近表面的缺陷。多用于檢測(cè)焊縫,鑄件或鍛件,如閥門,泵,壓縮機(jī)部件,法蘭,噴嘴及類似設(shè)備等。
探測(cè)更深一層內(nèi)表面的缺陷,則需應(yīng)用射線檢測(cè)或超聲波檢測(cè)。磁粉檢測(cè)具有檢測(cè)成本低,操作便利,反應(yīng)快速等特點(diǎn)。其局限性在于僅能應(yīng)用于磁性材料,且無法探知缺陷深度,工件本身的形狀和尺寸也會(huì)不同程度地影響到檢測(cè)結(jié)果。