fct功能測(cè)試治具的作用：

　　fct功能測(cè)試治具是一種用來測(cè)試半制品/制品或生產(chǎn)環(huán)節(jié)中的某一個(gè)工序的，以此來檢測(cè)出產(chǎn)品是否合格，fct功能測(cè)試治具使用于模仿、數(shù)字、存儲(chǔ)器、RF和電源電路，關(guān)于每一形式需求相對(duì)應(yīng)的fct測(cè)試治具。

　　MCU和嵌入式操控方式的特色在于：fct功能測(cè)試治具可在產(chǎn)品制造生命周期不一樣期間使用，首先是工程開發(fā)期間，在體系生產(chǎn)驗(yàn)證前承認(rèn)新產(chǎn)品功用;然后在生產(chǎn)中也是有必要的，作為整個(gè)流程的一部 分，經(jīng)由珍貴的體系測(cè)驗(yàn)下降缺點(diǎn)發(fā)現(xiàn)成本(遺失成本);后，在發(fā)貨付運(yùn)期間也是不行短少的，它可以削減在使用現(xiàn)場(chǎng)修理的用度，確保功用正常而不會(huì)被送回來。ICT測(cè)試治具對(duì)應(yīng)力測(cè)試起著重要的作用，之前經(jīng)常有朋友向小編提起的時(shí)候都覺得ICT測(cè)試治具的應(yīng)力測(cè)試并不重要，這種觀點(diǎn)在不少人心里也是這樣認(rèn)為的。

　　fct功能測(cè)試治具在檢測(cè)眾鑫的實(shí)踐中起著重要的功用通路及構(gòu)造驗(yàn)證，確定沒有硬件過錯(cuò)，以補(bǔ)償前面測(cè)驗(yàn)過程中遺失的部分。

對(duì)于測(cè)試治具是什么，小編很早之前已經(jīng)介紹過了，如有不知道的可以點(diǎn)擊 什么是治具? 了解，測(cè)試治具總體來說用于測(cè)試的，那么測(cè)試治具怎樣進(jìn)行功能測(cè)試的呢?下面聽百通先小編和大家講解一下。

　　測(cè)試治具的功能測(cè)試是依據(jù)控制模式的不同。根據(jù)不同的操作方式可以分為全自動(dòng)控制功能測(cè)試、手動(dòng)控制功能測(cè)試、半自動(dòng)控制功能測(cè)試，早的功能測(cè)試是以傳統(tǒng)的手動(dòng)和半自動(dòng)方式為主。

　　為了簡(jiǎn)化測(cè)試治具的設(shè)計(jì)和降低制作成本，目前還有很多廠家對(duì)于一些簡(jiǎn)單的測(cè)試產(chǎn)品的功能測(cè)試，還是采用手動(dòng)或者半自動(dòng)的工裝測(cè)試夾具測(cè)試的方案，不過大部分使用的還是全自動(dòng)測(cè)試治具。

FCT測(cè)試治具電機(jī)燒壞的原因：

電機(jī)運(yùn)行過載：如果是保護(hù)功能正常(加裝合適的熱繼電器)，一般不會(huì)發(fā)生，但是因熱繼電器無法校驗(yàn)，并且保護(hù)數(shù)值也不十分準(zhǔn)確，選型不合適等等加上人為設(shè)置成自動(dòng)復(fù)位，往往起不到作用，也可能多次保護(hù)以后，沒有找到真正原因，人為調(diào)高保護(hù)數(shù)值導(dǎo)致使保護(hù)失效。似乎很多人都想過這個(gè)問題，大多數(shù)以為一點(diǎn)也不早，而且越早越好。

缺相運(yùn)行：此時(shí)電機(jī)的噪聲很大，并且嚴(yán)重發(fā)熱，這也是三相異步FCT測(cè)試治具的致命，一般運(yùn)行十幾分鐘就燒壞了;若是整個(gè)供電系統(tǒng)缺相，很有可能造成多臺(tái)電機(jī)損壞，對(duì)于單臺(tái)電機(jī)好的解決辦法是加裝電子的缺相保護(hù)器(重要電機(jī)一定要用這個(gè))，還有就是三相回路中的保險(xiǎn)若是某一相熔斷也是個(gè)造成缺相的原因。8mm,BGA四個(gè)角的膠區(qū)域白潤(rùn)殘框內(nèi)全部銑幸湃依角外理印加銑夕I4JO。