一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷(xiāo)售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

用轉(zhuǎn)移法測(cè)量塑膠產(chǎn)品上涂層時(shí)注意事項(xiàng)：

由于對(duì)塑膠產(chǎn)品上涂層的測(cè)量，如使用超聲波發(fā)測(cè)量時(shí)，經(jīng)常因涂層與基材發(fā)生相溶而沒(méi)有較好的聲波反射面，從而導(dǎo)致測(cè)量失敗或讀值嚴(yán)重偏差。如使用切鍥法，也多有使用不方便和讀數(shù)困難的地方。所以目前便攜式電子產(chǎn)品生產(chǎn)廠普遍使用轉(zhuǎn)移法測(cè)量塑膠產(chǎn)品上涂層，先在產(chǎn)品上蓋若干小條標(biāo)準(zhǔn)厚度的聚酯薄膜，再用紙基美紋膠壓住兩頭，留出中間部分。將該產(chǎn)品放入噴涂線上正常噴涂、烘烤。70?X是借助于分析試樣發(fā)出的元素特征X射線波長(zhǎng)和強(qiáng)度實(shí)現(xiàn)的，根據(jù)不同元素特征X射線波長(zhǎng)的不同來(lái)測(cè)定試樣所含的元素。

一六儀器 專(zhuān)業(yè)測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車(chē)電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

 在我們的售前服務(wù)工作中，客戶通常都會(huì)拿一些在其它機(jī)構(gòu)或者儀器測(cè)量過(guò)的樣品來(lái)與我們儀器進(jìn)行測(cè)試結(jié)果對(duì)比，在確認(rèn)雙方儀器都是正常的情況下，會(huì)存在或多或少的差異，那么我們務(wù)必要把這個(gè)差異的來(lái)源分析給客戶，我們?cè)诜治鲋笆紫纫o客戶解說(shuō)測(cè)試的基本原理，告知此儀器為對(duì)比分析測(cè)試儀器，然后再談?wù)`差來(lái)源，主要來(lái)源：

  1、標(biāo)樣：對(duì)比分析儀器是要求有越接近于需測(cè)試樣品的標(biāo)樣，測(cè)試結(jié)果越接近實(shí)際厚度。確認(rèn)雙方有沒(méi)有在標(biāo)定和校正時(shí)使用標(biāo)樣？使用的是多少厚度的標(biāo)樣？

2、樣品材料的詳細(xì)信息：如Ni/Cu的樣品，如果一家是按化學(xué)Ni測(cè)試，一家是按純Ni測(cè)試；Au/Ni/Cu/PCB樣品，一款儀器受Br干擾，一款儀器排除了Br干擾。

   3、測(cè)量位置、面積：確定在同一樣品上測(cè)試的是否同一位置，因?yàn)闃悠吩陔婂儠r(shí)因電位差不同，各部位厚度是有差異的；確認(rèn)兩款儀器測(cè)量面積的大小有多少差異。

4、樣品形狀：測(cè)量的樣品是否是兩款儀器都可測(cè)量，或者放置位置是否合適，如突出面有無(wú)擋住設(shè)備接收。

江蘇一六儀器  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

      電鍍液測(cè)量杯整套含兩個(gè)測(cè)量杯，可用于多品牌X-RAY測(cè)厚儀上使用，高純?cè)乇镜滋岣邷y(cè)量精度和檢出限。電鍍液測(cè)試樣品杯，嚴(yán)格控制了容量和溢出物的處理，用來(lái)測(cè)試溶液中金屬離子的濃度；使用方便簡(jiǎn)捷，無(wú)污染。

測(cè)試膜，又名X射線熒光光譜儀樣品薄膜，邁拉膜，麥拉膜，XRF測(cè)試薄膜，XRF樣品膜，樣品薄膜，EDX薄膜，EDX樣品薄膜，ROHS檢測(cè)膜，光譜儀樣品薄膜；從設(shè)計(jì)上分為橫窗型(sidewindowtype)和縱窗型(endwindowtype)兩種X射線管，都是設(shè)計(jì)成能夠把X射線均勻得照射在樣品表面的結(jié)構(gòu)。是應(yīng)用于X熒光光譜儀的用于保留液體、粉末、泥漿或固體樣本在樣本杯內(nèi)的物質(zhì)。專(zhuān)用樣品薄膜是使用方便簡(jiǎn)捷，無(wú)污染的測(cè)試用樣品薄膜，廣泛應(yīng)用于Elite、fischer、牛津、博曼、先鋒、日立、天瑞等各種品牌的EDX/XRF光譜儀。