外徑千分尺的零位校準(zhǔn)使用

　　根據(jù)螺旋運(yùn)動原理，當(dāng)微分筒（又稱可動刻度筒）旋轉(zhuǎn)一周時，測微螺桿前進(jìn)或后退一個螺距──0.5毫米。這樣，當(dāng)微分筒旋轉(zhuǎn)一個分度后，它轉(zhuǎn)過了1/50周，這時螺桿沿軸線移動了1/50×0.5毫米＝0.01毫米，因此，使用千分尺可以準(zhǔn)確讀出0.01毫米的數(shù)值。

外徑千分尺的零位校準(zhǔn)使用千分尺時先要檢查其零位是否校準(zhǔn)，因此先松緊裝置，清除油污，特別是測砧與測微螺桿間接觸面要清洗干凈。檢查微分筒的端面是否與固定套管上的零刻度線重合，若不重合應(yīng)先旋轉(zhuǎn)旋鈕，直至螺桿要接近測砧時，旋轉(zhuǎn)測力裝置，當(dāng)螺桿剛好與測砧接觸時會聽到喀喀聲，這時停止轉(zhuǎn)動。

微分筒端面與下刻度線的區(qū)別

如微分筒端面與下刻度線之間有一條上刻度線，測量結(jié)果應(yīng)為下刻度線的數(shù)值加上0.5毫米，再加上可動刻度的值。1、先讀固定刻度　2、再讀半刻度，若半刻度線已露出，記作 0.5mm；若半刻度線未露出，記作 0.0mm；3、再讀可動刻度（注意估讀）。記作 n×0.01mm；4、終讀數(shù)結(jié)果為固定刻度 半刻度 可動刻度 估由于螺旋測微器的讀數(shù)結(jié)果到以mm為單位千分位，故螺旋測微器又叫千分尺。

游標(biāo)卡尺的基本發(fā)展過程

游標(biāo)卡尺的基本發(fā)展過程如下：

現(xiàn)代測量價值的游標(biāo)卡尺一般認(rèn)為是由法國人約尼爾·比爾發(fā)明的。他是一名數(shù)學(xué)家，在他的專著《新四分圓的結(jié)構(gòu)、利用及特性》中記述了游標(biāo)卡尺的結(jié)構(gòu)和原理，而他的名字Vernier變成了英文的游標(biāo)一詞沿用至今。1851年由美國Brown & Sharpe 公司將Nonuth 及 Vernier 兩個構(gòu)想制造出支游標(biāo)卡尺，后由德國Masuer兵工廠加以改良制造，是工程上應(yīng)用廣的量具。1854年荷、法、德、英、都普遍用上了游標(biāo)卡尺。1856年日本也普及了游標(biāo)卡尺，游標(biāo)卡尺的制造技術(shù)逐漸更新迅速提高，使之成為了通用性的長度。19世紀(jì)中葉，美國機(jī)械工業(yè)快速發(fā)展，美國夏普機(jī)械有限公司創(chuàng)始人與1985年秋，成功加工出了世界上批四把0-4英寸的游標(biāo)卡尺，其精度達(dá)到了0.001毫米。

當(dāng)弓形架變形后測桿工作面仍與測桿軸線垂直

當(dāng)碰撞或跌落造成弓形架變形而引起平行度超差時(判斷的方法是工作面的表面粗糙度、平面度很好，但用四個平行平晶檢平行度時四次的平行度都大大超差)，再用一般方法修復(fù)平行度就很費(fèi)時力了。我們知道，平行度合格的外徑千分尺其兩工作面均與測桿軸線垂直，當(dāng)弓形架變形后測桿工作面仍與測桿軸線垂直，但固定測砧的工作面則與測桿軸線不垂直了。因此，快速修復(fù)的途徑有兩種，種是用敲擊法(上下變形)或臺鉗(左右變形)校正變形的弓形架；第二種是調(diào)整固定測砧的位置，使其工作面與測桿軸線垂直。方法是固定測砧打出來，然后用圓銼把與其配合的孔略銼大些，使固定測砧能在孔內(nèi)上下左右進(jìn)行徑向偏擺調(diào)整，用任一平行平晶進(jìn)行平行度檢定，用手在徑向調(diào)整固定測砧位置，通過平行平晶觀察兩工作面的平行度，待調(diào)整至平行度合格后用膠水固定測砧即可。用本方法一般都能使平行度修復(fù)至2 微米以內(nèi)。如果由于用膠水固定時位置發(fā)生輕微變化導(dǎo)致平行度略微超差，則可將研磨器與測微螺桿工作面接觸的一面涂上潤滑油，只在與固定測砧面接觸的一面涂研磨劑進(jìn)行研磨就可以很快修復(fù)。