大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業(yè)以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

應用范圍■光學薄膜

?相位差膜、橢圓膜、相位差板

?偏光膜、附加功能偏光膜、偏光板、其它光學材料

■液晶層

?穿透、半穿透型液晶層(TFT、TN、STN、IPS 、VA、OCB、強誘電性液晶)

?反射型液晶層(TN,STN)

相位差光學材料量

產品特點：可更加精準的量測低相位差(0.1nm～)適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學軸)或角度配向性等光學膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀，展現(xiàn)任一個波長的相位差量測。

RETS-100閃電發(fā)貨OTSUKA相位差/光學材料量測設備,日本大塚電子；

FPD相關的檢查和評價設備：

動態(tài)畫面反應時間檢測儀：MPRT-2000,

相位差/光學材料量測設備：RETS-100,

發(fā)貨OTSUKA,日本大塚電子液晶顯示器LCD面板LCD-5200；

測定haze補正用樣品（與被測定樣品相同haze特性AG-TAC）,取得其補正table. 反復性能。(保證值)是利用本裝置附屬的基準樣本(偏光板)的測量結果（0.1s間隔 定點15回連續(xù)測量）。將粘貼面有漏出的樣品貼合與樣品治具上，反轉治具測定，玻璃上貼附樣品的場合，將超出部分的film定位與基準面，只反轉樣品進行測定。因本系統(tǒng)為精密光學測定裝置，作為設置場所，請考慮以下條件。