手持光譜儀的原理

在XRF分析法中，從光發(fā)射管里發(fā)射出來的高能初級射線光子會撞擊樣本元素。這些初級光子含有足夠的能量可以將里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時，原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會進入彌補內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進入內(nèi)層的過程中，它們會釋放出能量，我們稱之為二次X射線光子。而整個過程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過程中內(nèi)層和外層之間的能量差決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量大約是6.4千電子伏。特定元素在一定時間內(nèi)所發(fā)射出來的X射線的數(shù)量或者密度，能夠用來衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時光子密度的分布情況。

手持式光譜儀的特點

有效檢測，精準識別：在對材料進行分揀的過程中，龐大的數(shù)據(jù)量以及雜亂的材料常常導致檢測的開展十分緩慢。VANTA Element-S分析儀配備硅漂移探測器（SDD），可對元素進行分析，并在幾秒內(nèi)對合金進行牌號辨別和分揀，能夠快速有效地測量黑色金屬、鋁、銅、不銹鋼、鎳和金的含量。 

完成對樣品的檢測之后，屏幕上會顯示出清晰的牌號ID，以及鎂、鋁和硅等輕元素的比較信息。同時，分析儀的SDD探測器可以區(qū)分類似303和304不銹鋼、6061和1100鋁等相似的牌號，精準完成識別。

手持式光譜儀的功能特性

SmartSort：可以基于被測材料的情況自動延長或縮短檢測時間，并在1-2秒鐘時間內(nèi)獲得合金的牌號結(jié)果。

牌號匹配信息：實時彈出被測材料的商品名稱或牌號名稱和特殊的處理指示，以減少用戶的查看時間，并提高檢測效率。

額定值功能：可以自動辨別那些可能會出現(xiàn)的，但是XRF技術(shù)又不能基于牌號規(guī)格發(fā)現(xiàn)的元素(即估算可能會包含的元素)。

殘量庫：為各個牌號中的殘量元素設(shè)置大的可允許含量。

屏顯牌號對比：用戶可以對比排放在一起的近似牌號，以了解哪種合金是與額定值和殘量值相一致的匹配。