公司主要的經(jīng)營范圍為光電材料、電子科技、軟件科技領域內的技術開發(fā)、 技術咨詢、技術服務、技術轉讓;光電產(chǎn)品、半導體材料、儀器儀表、自動化設備、計算 機設備、辦公設備、電動工具、五金產(chǎn)品的設計、銷售、上門維修、租賃服務等;貨物及技術的進出口業(yè)務。

相位差測試儀的發(fā)展與現(xiàn)狀?

相位測量技術的研究由來已久，早的研究和應用是在數(shù)學的矢量分析和物理學的圓周運動以及振動學方面，隨之在電力部門、機械部門、航空航天、地質勘探、海底資源等方面

也相應得到重視和發(fā)展。隨著電子技術和計算機技術的發(fā)展，相位測量技術得到了迅速的發(fā)展，目前相位測量技術已較完善，測量方法及理論也比較成熟，相位測量儀器已系列化和商品化。

相位差測量儀PLM-100系列

主要選配功能

相位差（0~20000nm）

吸收軸角度/偏光軸角度

透過率，色度（La、b），偏光度

快軸慢軸角度
單波段（550nm為主）/多波段測試（380nm~nm為主）

內應力

測試誤區(qū)

軸角度是吸收軸角度嗎？

否。

①吸收軸角度，是指透過光線在某一方向呈現(xiàn)吸收狀態(tài)（透光率i低），此光軸跟基準邊的夾角。通常同偏光軸（透過軸）垂直相交。  

②軸角度定義適用于雙折射樣品（產(chǎn)生相位差的樣品），在國際上普遍定義為慢軸與基準邊的夾角。

偏光片的起源

偏光片是由美國拍立得公司(Polaroid)創(chuàng)始人蘭特(Edwin H. Land)于1938年所發(fā)明。六十年后的今天，雖然偏光片在生產(chǎn)技巧和設備上有了許多的改進，但在制程的基本原理和使用的材料上仍和六十年前完全一樣。因此，在說明 偏光片的制程原理之前，先簡單的敘述一下蘭特當時是在什么情況下得到靈感，相信這有助于全i面了解偏光片的制程。

蘭特于1926年在哈佛大學念書時看了一篇由英國的一位醫(yī)生Dr. Herapath在1852年發(fā)表的論i文，內容提到Dr. Herapath的一位學生Mr. Phelps曾不小心把碘掉入the solution disulfate of quinine，他發(fā)現(xiàn)立即就有許多小的綠色晶體產(chǎn)生，Dr. Herapath于是將這些晶體放在顯微鏡下觀察，發(fā)現(xiàn)如下圖所示：當兩片晶體相重疊時，其光的透過度會隨晶體相交的角度而改變，當它們是相互垂直時，光則被完全吸收；相互平行時，光可完全透過。

這些碘化合物的晶體非常小，所以在實際應用上有了很大的限制，Dr. Herapath花了將近十年的時間來研究如何才能做出較大的偏光晶體，可是他并沒有成功。因此，蘭特認為這條路可能是不可行的，于是他采用了以下的方式：

●蘭特把大顆粒晶體研磨(ball mill)成微小晶體，并使這些小晶體懸浮在液體中。

●將一塑料片放入上述的懸浮液中，然后再放入磁場或電場中定向。

●將此塑料片留在磁場或電場中，干燥后就成為 偏光片。

●將此塑料片從懸浮液中取出，偏光晶體就會附蓋在塑料片的表面上。