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儀一六儀器 快速精準(zhǔn)分析膜厚儀穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),先進(jìn)的解譜方法,解決各種大小多層多元素的涂鍍層厚度分析,
微聚焦射線(xiàn)裝置:可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品,可測(cè)試各微小的部件.
測(cè)厚儀分類(lèi):
一、磁性式
二、渦電流式
三、紅外測(cè)厚儀
四、電解式(庫(kù)倫法)
五、金相測(cè)試法
六、非破壞熒光式(X光)
具體講下渦流測(cè)厚儀原理如下:
1.渦流測(cè)厚儀當(dāng)載有高頻電流的探頭線(xiàn)圈置于被測(cè)金屬表面時(shí),由于高頻磁場(chǎng)的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流,此渦liu產(chǎn)生的磁場(chǎng)又反作用于探頭線(xiàn)圈,使其阻抗發(fā)生變化,此變化量與探頭線(xiàn)圈離金屬表面的距離(即覆蓋層的厚度)有關(guān),因而根據(jù)探頭線(xiàn)圈阻抗的變化可間接測(cè)量金屬表面覆蓋層的厚度。他們各有優(yōu)缺點(diǎn),就我目前了解到的情況沒(méi)有見(jiàn)到過(guò)紅外線(xiàn)的測(cè)厚儀,紅外線(xiàn)也是屬于光的一種,如果有的話(huà)應(yīng)該歸屬于激光測(cè)厚儀大類(lèi)里面,紅外激光是不可見(jiàn)的光,用紅外激光做成的測(cè)厚儀可稱(chēng)為紅外線(xiàn)測(cè)厚儀。常用于測(cè)定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。
2.同位素測(cè)厚儀利用物質(zhì)厚度不同對(duì)輻射的吸收與散射不同的原理,可以測(cè)定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片,塑料膜,紙張等的厚度。常用的同位素射線(xiàn)有γ射線(xiàn)、β射線(xiàn)等。
一六儀器 光譜測(cè)厚儀研發(fā)生產(chǎn)廠(chǎng)家 一六儀器一liu品質(zhì),可同時(shí)檢測(cè)多層材料鍍層厚度(含有機(jī)物)及成分.操作簡(jiǎn)單方便.厚度含量測(cè)試只需要幾秒鐘,多小多復(fù)雜的樣品輕松搞定,歡迎來(lái)電咨詢(xún)!
測(cè)厚儀操作規(guī)程有哪些?測(cè)厚儀在使用過(guò)程中,如果操作不規(guī)范,很容易導(dǎo)致測(cè)厚儀出現(xiàn)故障及問(wèn)題,因此我們?cè)谑褂们岸夹枰攘私庀聹y(cè)厚儀的操作規(guī)范及一些常見(jiàn)問(wèn)題的處理方法:
二.維護(hù)保養(yǎng)規(guī)程
1、應(yīng)在每次使用前做零點(diǎn)校正;
2、應(yīng)定時(shí)給導(dǎo)軌潤(rùn)滑點(diǎn)注油,保持導(dǎo)軌上沒(méi)有粉塵;
3、應(yīng)定時(shí)檢查電機(jī)工作狀況;
4、應(yīng)一個(gè)月一次,清洗計(jì)算機(jī)機(jī)箱的防塵網(wǎng);
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X射線(xiàn)測(cè)厚儀測(cè)量精度的影響因素有哪些
我們要保證生產(chǎn)的產(chǎn)品厚度上是否可以,那么X射線(xiàn)測(cè)厚儀測(cè)量的精度是否準(zhǔn)確就非常重要了,如果X射線(xiàn)測(cè)厚儀的測(cè)量精度發(fā)生了偏差,那么生產(chǎn)出來(lái)的產(chǎn)品就不會(huì)!一六儀器---鍍層測(cè)厚儀|光譜測(cè)厚儀|X-ray測(cè)厚儀|X熒光測(cè)厚儀|凃?qū)幽ず駜x性能優(yōu)勢(shì):下照式設(shè)計(jì):可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。由此可知測(cè)厚儀的測(cè)量精度有多么重要,因此,這次在這與大家分享下X射線(xiàn)測(cè)厚儀測(cè)量精度的影響因素有哪些:
首先,是X射線(xiàn)的高壓控制箱會(huì)對(duì)測(cè)量的精度造成一定的影響;
第二,在X射線(xiàn)測(cè)厚儀通過(guò)施加高壓釋放出X射線(xiàn)時(shí),X射線(xiàn)途經(jīng)環(huán)境的溫度濕度也會(huì)影響X射線(xiàn)對(duì)被測(cè)物體的測(cè)量;
第三,在測(cè)量過(guò)程中,被測(cè)物體上,可能會(huì)有附著物,也會(huì)影響測(cè)量的精度;
第四,在生產(chǎn)過(guò)程中,補(bǔ)償值也會(huì)對(duì)X射線(xiàn)測(cè)厚儀的測(cè)量精度造成影響。