光學(xué)影像測(cè)量?jī)x檢測(cè)是一種常見測(cè)量技術(shù)，通過提供了量化的圖像測(cè)量方式，獲得測(cè)量數(shù)據(jù)，從而對(duì)零部件公差尺寸進(jìn)行把控，是機(jī)械、電子制造業(yè)，計(jì)量測(cè)試所廣泛使用的一種多用途計(jì)量?jī)x器。

影像測(cè)量?jī)x的誤差來源有哪些呢？ （1）光柵尺記數(shù)的偏差; （2）操作臺(tái)挪動(dòng)時(shí)存有的平行度、角擺產(chǎn)生的偏差; （3）操作臺(tái)兩精l確測(cè)量軸平整度帶的偏差; （4）攝像鏡頭直線光軸與操作臺(tái)不垂直帶的偏差; （5）精l確測(cè)量工作溫度轉(zhuǎn)變產(chǎn)生的偏差; （6）燈源照明燈具標(biāo)準(zhǔn)的轉(zhuǎn)變產(chǎn)生的自動(dòng)對(duì)焦和指向偏差。

三維形貌測(cè)量?jī)x對(duì)于樣品表面特性研究案例

材料科學(xué)的目標(biāo)是研究材料表面結(jié)構(gòu)對(duì)于其表面特性的影響。因此，高分辨率分析表面形貌對(duì)確定表面粗糙度、反光特性、摩擦學(xué)性能及表面質(zhì)量等相關(guān)參數(shù)具有重要意義。

符合國際標(biāo)準(zhǔn)的NanoFocus測(cè)量系統(tǒng)適用于各種不同材料的測(cè)量需求，滿足滿足規(guī)格要求并使工藝流程優(yōu)化，這意味著在縮短開發(fā)時(shí)間的同時(shí)降低成本。

全自動(dòng)影像測(cè)量?jī)x的使用環(huán)境： 1.避振如果影像測(cè)量?jī)x受到額外的周圍振動(dòng)，測(cè)量精度將會(huì)降低。當(dāng)頻率小于10Hz時(shí)，周圍振動(dòng)的振幅不應(yīng)該超過2μm（峰-峰差值）；當(dāng)頻率在10Hz到50Hz之間時(shí)，則加速度不應(yīng)超過0.4Gal。如果振動(dòng)超過這些限制，應(yīng)該采用防振措施（例如安裝振動(dòng)阻尼器）。2.無塵影像測(cè)量?jī)x構(gòu)成組件必須保證無灰塵。雖然防塵罩對(duì)影像測(cè)量?jī)x有一定的防護(hù)作用，但測(cè)量?jī)x仍應(yīng)定期清潔。3.電源使用90～264VAC，47-63Hz，10Amp下的穩(wěn)定電源，以確保儀器正常運(yùn)行。