分析儀的測(cè)試

分析儀的測(cè)試流程

〈1〉自檢：把銀片放入儀器，點(diǎn)擊軟件界面“自檢”按紐。當(dāng)顯示數(shù)值在-1 — 1之間，即可開始檢測(cè)。

〈2〉測(cè)量：把首飾放入儀器，點(diǎn)擊軟件界面“測(cè)量”按鈕，等待顯示結(jié)果。測(cè)量時(shí)注意首飾選點(diǎn)，選點(diǎn)好壞對(duì)檢測(cè)結(jié)果可能產(chǎn)生很大影響。

〈3〉保存打?。簻y(cè)量完成后可選擇是否保存數(shù)據(jù)，也可選擇是否打印數(shù)據(jù)。

以上就是關(guān)于分析儀的相關(guān)內(nèi)容介紹，如有需求，歡迎撥打圖片上的熱線電話！

貴重金屬檢測(cè)

北京京國(guó)藝科技發(fā)展有限公司專業(yè)生產(chǎn)、銷售貴金屬分析儀，以下信息由北京京國(guó)藝科技發(fā)展有限公司為您提供。

1. 分析元素范圍：從S（16 號(hào)元素）到鈾（92 號(hào)元素）

2. 元素分析含量范圍：1ppm 到99.99%

3. 元素同時(shí)分析能力：26 種元素

4. 測(cè)量樣品型態(tài)：固體，粉末，液體

5. 探測(cè)器：美國(guó)原裝進(jìn)口Si-Pin /SDD 探測(cè)器

光譜儀簡(jiǎn)介

以下內(nèi)容由北京京國(guó)藝科技發(fā)展有限公司為您提供，今天我們來分享分析儀的相關(guān)內(nèi)容，希望對(duì)同行業(yè)的朋友有所幫助！

X射線熒光光譜分析儀分為能量色散型X射線熒光光譜分析儀（EDXRF）和波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜分析儀（WDXRF）。波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜分析儀是通過X射線的波長(zhǎng)特性，對(duì)X射線進(jìn)行分光，獲取各個(gè)光通道的計(jì)數(shù)，從而得到樣品的成分及含量。該設(shè)備優(yōu)勢(shì)是準(zhǔn)確度高，但是設(shè)備造價(jià)高，維護(hù)成本高，樣品需要前處理，操作相對(duì)復(fù)雜。能量色散型X射線熒光光譜分析儀是通過X射線的粒子特性，獲取特征光譜的能量和計(jì)數(shù)，從而得到樣品的成分及含量。該設(shè)備優(yōu)勢(shì)是造價(jià)低，維護(hù)成本低，樣品不需要前處理可直接測(cè)量，操作簡(jiǎn)單，但精度低于波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜分析儀。對(duì)于大多數(shù)用戶來講，是不具備自行研究分析技術(shù)并用于指導(dǎo)應(yīng)用的，這種情況下，技術(shù)服務(wù)顯得尤為重要。正是基于以上原理，分析儀能夠快速檢測(cè)出及其雜質(zhì)的成分及含量。