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一六儀器 國(guó)內(nèi)外通力合作打造高性價(jià)比X熒光測(cè)厚儀
一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的X熒光光譜儀,穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡(jiǎn)便快速測(cè)試各種涂鍍層的厚度及成分比例
測(cè)厚儀操作規(guī)程有哪些?測(cè)厚儀在使用過(guò)程中,如果操作不規(guī)范,很容易導(dǎo)致測(cè)厚儀出現(xiàn)故障及問(wèn)題,因此我們?cè)谑褂们岸夹枰攘私庀聹y(cè)厚儀的操作規(guī)范及一些常見(jiàn)問(wèn)題的處理方法:
四.安全衛(wèi)生
1、源需由專人保管;
2、應(yīng)有妥善的保管場(chǎng)所(有防盜門(mén)、窗和放置源用的鐵皮 柜,距生活區(qū)一米遠(yuǎn));
3、長(zhǎng)期不使用時(shí),應(yīng)放置保管場(chǎng)所;
4、衛(wèi)生
5、應(yīng)定期清理主機(jī)和探頭外表面,對(duì)源鉛罐上表面也要定期清理。
一六儀器 國(guó)內(nèi)外通力合作打造高性價(jià)比X熒光測(cè)厚儀
一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的X熒光光譜儀,穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡(jiǎn)便快速測(cè)試各種涂鍍層的厚度及成分比例
儀器規(guī)格:
外形尺寸 :550 mm x 660mm x 470 mm (長(zhǎng)x寬x高)
樣品倉(cāng)尺寸 :500mm×660 mm ×215mm (長(zhǎng)x寬x高)
儀器重量 :55kg
供電電源 :交流220±5V
zui da功率 :330W
環(huán)境溫度:15℃-30℃
環(huán)境相對(duì)濕度:<70%
涂層測(cè)厚儀操作規(guī)程有哪些
我們?cè)谑褂猛繉訙y(cè)厚儀時(shí),如果不了解涂層測(cè)厚儀的操作規(guī)程,那么就很容易出現(xiàn)一些問(wèn)題,甚至嚴(yán)重的可能會(huì)對(duì)自身產(chǎn)生威脅,那么涂層測(cè)厚儀的操作規(guī)程有哪些,下面就來(lái)了解下先:
一、操作注意事項(xiàng)
1. 如果在測(cè)量中測(cè)頭放置不穩(wěn),會(huì)引起測(cè)量值與實(shí)際值偏差較大;
2. 如果已經(jīng)進(jìn)行了適當(dāng)?shù)男?zhǔn),所有的測(cè)量值將保持在一定的誤差 范圍內(nèi);
3. 儀器的任何一個(gè)測(cè)量值都是五次看不見(jiàn)的測(cè)量平均值;
4. 為使測(cè)量更加準(zhǔn)確,可在一個(gè)點(diǎn)多次測(cè)量,并計(jì)算其平均值作為 終的測(cè)量結(jié)果;
5. 顯示測(cè)量結(jié)果后,一定要提起測(cè)頭至距離工件10mm以上,才可以 進(jìn)行下次測(cè)量。
X射線熒光的基本原理
鍍層測(cè)厚儀|光譜測(cè)厚儀|X-ray測(cè)厚儀|X熒光測(cè)厚儀|凃?qū)幽ず駜x---一六儀器 歡迎咨詢聯(lián)系
X射線熒光是由原級(jí)X射線照射待測(cè)樣品時(shí)所產(chǎn)生的次級(jí)X射線,入射的X射線具有相對(duì)較大的能量,使其可以轟擊出位于元素原子內(nèi)層中的電子。X射線熒光光譜的波長(zhǎng)在0.01-10納米之間,能量在124KeV-0.124KeV之間。同位素測(cè)厚儀利用物質(zhì)厚度不同對(duì)輻射的吸收與散射不同的原理,可以測(cè)定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片,塑料膜,紙張等的厚度。用于元素分析中的X射線熒光光譜波長(zhǎng)的范圍在0.01-11納米之間,能量為0.111-0.124KeV。
當(dāng)X射線激發(fā)出試樣特征X射線時(shí),其入射電磁輻射能量必須大于某一個(gè)值才能引起其內(nèi)層電子激發(fā)態(tài)從而形成空穴并引起電子的躍遷,這個(gè)值是吸收限,相當(dāng)于內(nèi)層電子的功函數(shù)。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發(fā)原子內(nèi)層電子并產(chǎn)生特征X射線。X射線測(cè)厚儀應(yīng)用在哪些方面適用范圍:生產(chǎn)鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產(chǎn)品的企業(yè),可以與軋機(jī)配套,應(yīng)用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。