一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

X熒光鍍層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片選擇與使用

1．一般要求

   使用可靠的參考標(biāo)準(zhǔn)塊校準(zhǔn)儀器。后的測量不確定度直接取決于校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊的測量不確定度和測量精度。

   參考標(biāo)準(zhǔn)塊應(yīng)具有的已知單位面積質(zhì)量或厚度的均勻的覆蓋層，如果是合金，則應(yīng)知其組成。因此，往往在測試對象幾何結(jié)構(gòu)基本上沒有變化的情況下使用比較快捷。參考標(biāo)準(zhǔn)塊的有效或限定表面的任何位置的覆蓋層不能超過規(guī)定值的±5%.只要用于相同的組成和同樣或已知密度的覆蓋層，規(guī)定以厚度為單位（而不是單位面積質(zhì)量）的標(biāo)準(zhǔn)塊，將是可靠的。合金組成的測定，校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)不需要相同，但應(yīng)當(dāng)已知。

金屬箔標(biāo)準(zhǔn)片。如果使用金屬箔貼在特殊基體表面作標(biāo)準(zhǔn)片，就必須注意確保接觸清潔，無皺折紐結(jié)。任何密度差異，除非測量允許，否則必須進(jìn)行補償后再測。

2．標(biāo)準(zhǔn)塊的選擇

可用標(biāo)準(zhǔn)塊的單位面積厚度單位校準(zhǔn)儀器，厚度值必須伴隨著覆蓋層材料的密度來校正。如果液體進(jìn)入儀器，請立刻關(guān)閉儀器并在重新使用前請技術(shù)人員整體檢查儀器。標(biāo)準(zhǔn)片應(yīng)與被測試樣具有相同的覆蓋層和基體材料，但對試樣基材為合金成分的，有些儀器軟件允許標(biāo)樣基材可與被測試樣基材不同，但前提是標(biāo)準(zhǔn)塊基體材料與試樣基材中的主元素相同。

3．標(biāo)準(zhǔn)塊的X射線發(fā)射（或吸收）特性及使用

   校正標(biāo)準(zhǔn)塊的覆蓋層應(yīng)與被測覆蓋層具有相同的X射線發(fā)射（或吸收）特性。

如果厚度由X射線吸收方法或比率方法確定，則厚度標(biāo)準(zhǔn)塊的基體應(yīng)與被測試樣的基體具有相同的X射線發(fā)射特性，通過比較被測試樣與校正參考標(biāo)準(zhǔn)塊的未鍍基體所選的特征輻射的強度，然后通過軟件達(dá)到對儀器的校正。

測試面積是測厚儀器的一項很重要的參數(shù)，主要由準(zhǔn)直器控制組成，但也受其它條件限制：

    1、受高壓、光管限制，因為需要這兩裝置提供足夠熒光強度和聚焦。

    2、受儀器結(jié)構(gòu)限制，相同的準(zhǔn)直器因安裝的位置及與探測器的角度都影響測量面積，同樣是直徑0.2mm準(zhǔn)直器Thick800A測量面積達(dá)到直徑0.4mm，EDX1800B測量面積達(dá)到直徑0.5mm，CMI900測量面積達(dá)到0.3mm,而XTU-A面積可以達(dá)到0.218.

江蘇一六儀器    選擇X熒光光譜鍍層檢測儀的四個理由：

1、無損檢測

      鍍層工藝的高要求，讓楔切法、光截法等傳統(tǒng)的破壞性檢測方法越來越不適用，市場上迫切需要一種快速、準(zhǔn)確、無損的檢測方法，而X射線熒光光譜法無非是excellent鍍層無損檢測方法。

2、強化品質(zhì)管控

     X熒光光譜鍍層檢測儀可以準(zhǔn)確檢測鍍層的金屬含量及厚度等數(shù)據(jù)，這是做好電鍍品質(zhì)管控的前提。

3、提升生產(chǎn)力

      傳統(tǒng)的檢測技術(shù)，既耗時又耗人力，而X熒光光譜鍍層檢測儀可以很大程度上解放勞動力，且檢測速度快、精度高，這對提高電鍍企業(yè)生產(chǎn)力、節(jié)約成本有很大幫助，從而帶來更多的經(jīng)濟(jì)效益。

4、提升市場競爭力

    X熒光光譜鍍層檢測儀不但可以幫助電鍍企業(yè)提升勞動生產(chǎn)力，也可以幫助電鍍企業(yè)在行業(yè)里保持excellent的競爭優(yōu)勢。