磁性測(cè)厚儀在測(cè)定各種導(dǎo)磁材料的磁阻時(shí)，測(cè)定值會(huì)因其表面非導(dǎo)磁覆蓋層厚度的不同而發(fā)生變化。利用這種變化即可測(cè)知覆蓋層厚度值。常用于測(cè)定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。渦流測(cè)厚儀當(dāng)載有高頻電流的探頭線圈置于被測(cè)金屬表面時(shí)，由于高頻磁場(chǎng)的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，此渦生的磁場(chǎng)又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關(guān)，因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測(cè)量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測(cè)定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。

在工業(yè)中常要對(duì)一些鍍層（電鍍、真空鍍等）進(jìn)行厚度分析，例如：PCB板、五金端子、線材、電子產(chǎn)品、汽車、飾品等行業(yè)。

華唯計(jì)量鍍層測(cè)厚儀是基于X射線熒光技術(shù)所開(kāi)發(fā)，適用于擁有生產(chǎn)線的電鍍生產(chǎn)商，對(duì)部件有檢測(cè)要求的組件或整機(jī)廠商。特別是針對(duì)生產(chǎn)規(guī)模較大、自主管控理念層次高、在業(yè)界影響力大的客戶，幫助其準(zhǔn)確檢測(cè)金屬表面厚度、鍍層測(cè)厚，鐵基和非鐵基材料，對(duì)合金成分進(jìn)行定量分析。

測(cè)量值精度的影響因素1．影響因素的有關(guān)說(shuō)明a 基體金屬磁性質(zhì)磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。b 基體金屬電性質(zhì)基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。