手持光譜儀帶你了解元素的特征信息

射線熒光的能量或波長(zhǎng)是特征性的,與元素有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。由Moseley定律可知，只要測(cè)出熒光X射線的波長(zhǎng),就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素定量分析。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來得到待測(cè)元素的特征信息。

手持光譜儀的原理

在XRF分析法中，從光發(fā)射管里發(fā)射出來的高能初級(jí)射線光子會(huì)撞擊樣本元素。這些初級(jí)光子含有足夠的能量可以將里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時(shí)，原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會(huì)尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會(huì)進(jìn)入彌補(bǔ)內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進(jìn)入內(nèi)層的過程中，它們會(huì)釋放出能量，我們稱之為二次X射線光子。而整個(gè)過程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過程中內(nèi)層和外層之間的能量差決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量大約是6.4千電子伏。特定元素在一定時(shí)間內(nèi)所發(fā)射出來的X射線的數(shù)量或者密度，能夠用來衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時(shí)光子密度的分布情況。

手持式光譜儀的常見問題解答

1、如何利用XRF技術(shù)進(jìn)行檢測(cè)？

分析儀發(fā)出X射線。X射線撞擊到被測(cè)樣品，使樣品中的元素發(fā)出熒光，然后再返回到分析儀中的X射線探測(cè)器。分析儀對(duì)返回的X射線進(jìn)行計(jì)數(shù)，并通過數(shù)學(xué)式運(yùn)算，得出分析結(jié)果。

2、XRF分析儀的用途是什么？

XRF分析儀用于需要辨別材料的化學(xué)成分的應(yīng)用中。便攜式XRF分析儀可在野外現(xiàn)場(chǎng)采用堪比實(shí)驗(yàn)室的技術(shù)對(duì)那些龐大、笨重或運(yùn)送成本很高的樣品進(jìn)行檢測(cè)。在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行分析可以實(shí)時(shí)提供信息，使用戶迅速做出決策。