NDC光學(xué)測(cè)厚儀的原理

NDC T100光學(xué)測(cè)厚儀是由基于多年經(jīng)驗(yàn)的NDC集團(tuán)獨(dú)立發(fā)展并應(yīng)用在厚度、寬度和速度測(cè)量的技術(shù)。系統(tǒng)由可以完全避免測(cè)量元件振動(dòng)的異常堅(jiān)固的測(cè)量臂、長(zhǎng)壽命半導(dǎo)體激光器和陣列攝像頭組成。可以自動(dòng)使用測(cè)量表面的反射變化。

產(chǎn)品厚度是通過(guò)計(jì)算測(cè)量框架的氣隙和每一端到測(cè)量對(duì)象表面的和的差值取得的。如圖所示，測(cè)量的精度取決于三角測(cè)量法的精度和c-型架的穩(wěn)定性。

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NDC測(cè)厚儀和NDC X射線(xiàn)鍍層測(cè)量?jī)xFVXR-1簡(jiǎn)介

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NDC X射線(xiàn)鍍層測(cè)量?jī)xFVXR-1是鋼板帶金屬涂層測(cè)量領(lǐng)域較先進(jìn)的在線(xiàn)非接觸探測(cè)系統(tǒng)，應(yīng)用在冶金行業(yè)鍍鋅線(xiàn)（鍍鋅、鍍鋅退火、鋁鋅線(xiàn)），鍍錫、鍍銅、鍍鎳等。

NDC X射線(xiàn)鍍層測(cè)量?jī)xFVXR-1系列是鋼板帶金屬涂層測(cè)量領(lǐng)域較先進(jìn)的在線(xiàn)非接觸探測(cè)系統(tǒng)。鋅、鋁或錫涂料的測(cè)量是利用板帶發(fā)射的熒光曝光在高壓X射線(xiàn)輻射下進(jìn)行的。

渦流測(cè)厚儀簡(jiǎn)介

渦流測(cè)厚儀當(dāng)載有高頻電流的探頭線(xiàn)圈置于被測(cè)金屬表面時(shí)，由于高頻磁場(chǎng)的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，此渦流所產(chǎn)生的磁場(chǎng)又反作用于探頭線(xiàn)圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線(xiàn)圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關(guān)，因而根據(jù)探頭線(xiàn)圈阻抗的變化可間接測(cè)量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測(cè)定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。NDC測(cè)厚儀的射線(xiàn)源介紹X射線(xiàn)源全部NDC集團(tuán)的線(xiàn)源均可提供長(zhǎng)時(shí)間卓越的連續(xù)穩(wěn)定的重復(fù)測(cè)量。

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