手持光譜儀——產(chǎn)品介紹

該產(chǎn)品是基于X射線理論而誕生的，它主要用于航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領(lǐng)域金屬材料中元素成份的現(xiàn)場測定。是伴隨世界經(jīng)濟崛起的工業(yè)和軍事制造領(lǐng)域必不可少的快速成份鑒定工具。是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素， 同時將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(λ)及能量(E)確定具體元素，而通過測量相應(yīng)射線的密度來確定此元素的量。如此一來，XRF度普術(shù)就能測定物質(zhì)的元素構(gòu)成。

手持光譜儀的原理

在XRF分析法中，從光發(fā)射管里發(fā)射出來的高能初級射線光子會撞擊樣本元素。這些初級光子含有足夠的能量可以將里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時，原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會尋求穩(wěn)定，外層L層或M層的電子會進入彌補內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進入內(nèi)層的過程中，它們會釋放出能量，我們稱之為二次X射線光子。而整個過程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過程中內(nèi)層和外層之間的能量差決定的。例如，鐵原子Fe的Kα能量大約是6.4千電子伏。特定元素在一定時間內(nèi)所發(fā)射出來的X射線的數(shù)量或者密度，能夠用來衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時光子密度的分布情況。

手持光譜儀的特點

◆　性能良好

精度高，接近實驗室級的分析水平，可直觀顯示元素百分比含量（某些元素可顯示到小數(shù)點后三位）及ppm含量。

◆　速度快，操作簡單

“開機啟動—瞄準(zhǔn)測試—察看結(jié)果”，整個分析過程僅需數(shù)秒便可完成，鑒別只需1~2秒鐘，操作簡單，即使非技術(shù)人員也可輕松掌握。

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手持式光譜儀的應(yīng)用領(lǐng)域

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XRF技術(shù)還可以用于一些新的領(lǐng)城，比如風(fēng)電和汽車領(lǐng)城 ，通過對油品中全屬元素金盤進行檢測，可以間接反映軸承的磨損情況。還有許多新的XRF應(yīng)用領(lǐng)減正在破開發(fā)出來，使得XRF技術(shù)在容個行業(yè)領(lǐng)城得到了廣泛的應(yīng)用，比如工廠的生產(chǎn)制近環(huán)節(jié)的焊接質(zhì)量控制，也會用到XRF會監(jiān)分析儀。