在產(chǎn)品制造過(guò)程中，由于各種原因，零部件不可避免的會(huì)產(chǎn)生多種缺陷，如印制電路板上出現(xiàn)孔錯(cuò)位、劃傷、斷路、短路、污染等缺陷，液晶面板的基板玻璃和濾光片表面含有針1孔、劃痕、顆粒、mura等缺陷，帶鋼表面產(chǎn)生裂紋、輥印、孔洞、麻點(diǎn)等缺陷，這些缺陷不僅影響產(chǎn)品的性能，嚴(yán)重時(shí)甚至?xí)：Φ缴踩?，?duì)用戶造成巨大經(jīng)濟(jì)損失。

傳統(tǒng)缺陷檢測(cè)方法為人工目視檢測(cè)法，目前在手機(jī)、平板顯示、太陽(yáng)能、鋰電池等諸多行業(yè)，仍然有大量的產(chǎn)業(yè)工人從事這項(xiàng)工作。這種人工視覺(jué)檢測(cè)方法需要在強(qiáng)光照明條件下進(jìn)行，不僅對(duì)檢測(cè)人員的眼睛傷害很大，且存在主觀性強(qiáng)、和人眼空間和時(shí)間分辨率有限、檢測(cè)不確定性大、易產(chǎn)生歧義、效率低下等缺點(diǎn)，已很難滿足現(xiàn)代工業(yè)高速、高分辨率的檢測(cè)要求。

在反射模式將白色的紙放置在光具(底片)之下，介于光具透明和不透明范圍之間，以提高其對(duì)比度。經(jīng)過(guò)交替的變換達(dá)到或接近所使用的標(biāo)準(zhǔn)的AOI系統(tǒng)。這種方法不是通用的的，更多的傾向是由于微小的劃傷，才會(huì)出現(xiàn)假的缺陷報(bào)告。另外:容易產(chǎn)生錯(cuò)誤的是由于光具表面銀粒子無(wú)光澤,再通過(guò)AOI的反射模式，特別是焦點(diǎn)不是在光具銀乳膠膜上，就很容易出現(xiàn)假的讀出。而表面無(wú)光澤的粒子致使真空度下降。這些粒子是甲1基丙1烯酸樹脂，直徑大約7微米，它能夠使光發(fā)出散光。

PCB 缺陷可大致分為短路（包括基銅短路、細(xì)線短路、電鍍斷路、微塵短路、凹坑短路、重復(fù)性短路、污漬短路、干膜短路、蝕刻不足短路、鍍層過(guò)厚短路、刮擦短路、褶皺短路等），開(kāi)路（包括重復(fù)性開(kāi)路、刮擦開(kāi)路、真空開(kāi)路、缺口開(kāi)路等）和其他一些可能導(dǎo)致PCB報(bào)廢的缺陷（包括蝕刻過(guò)度、電鍍燒焦、針1孔),在 PCB生產(chǎn)流程中，基板的制作、覆銅有可能產(chǎn)生一些缺陷，但主要缺陷在蝕刻之后產(chǎn)生，AOI一般在蝕刻工序之后進(jìn)行檢測(cè)，主要用來(lái)發(fā)現(xiàn)其上缺少的部分和多余的部分。