大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

測量項(xiàng)目

? 量子効率（量子收率）測量

? 激勵波長依賴性測量

? 發(fā)光光譜測量

? PL激勵光譜測量

? EEM（Excitation Emission Matrix）測量

用　途

? LED、有機(jī)EL用熒光體的量子効率（量子收率）測量

? 膜狀樣品的透過熒光?反射熒光的量子効率（量子收率）測量

-　非接觸式熒光粉用熒光體樣品等

? 量子Dot、熒光探頭、生體領(lǐng)域、包接化合物等的熒光測量

? 色素敏化型太陽電池的量子効率（量子收率）測量

? 絡(luò)化物化合物的測量

根據(jù)再激勵熒光補(bǔ)正功能，觀察”真正德物性值”

包括再激勵熒光發(fā)光狀態(tài)下，不僅不能觀察材料本身的物性，也不能觀測到包含裝置的特性，無法求出真正的物性值。QE-2000通過利用積分半球的再激勵熒光補(bǔ)正的特點(diǎn)，可簡單的測量出真正的物性值，且精度高。

什么是再激發(fā)熒光發(fā)光.

在熒光體樣品表面上反射的激發(fā)光

在積分球內(nèi)擴(kuò)散和反射并再次進(jìn)入熒光樣品以發(fā)射

更多光的現(xiàn)象。

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  保修期內(nèi)，萬一由于制造上的不足而使本產(chǎn)品產(chǎn)生故障，則免費(fèi)為您修理。但是，本產(chǎn)品的故障原因復(fù)合以下情況時(shí)，則不在此保修內(nèi)容內(nèi)。熒光物質(zhì)樣品反射出的激發(fā)光在積分球內(nèi)壁反復(fù)反射，再次照射到熒光物質(zhì)樣品上并使其熒光發(fā)光的過程，被稱作再次激發(fā)。

量子效率QE（Quantum Efficiency），或稱光譜響應(yīng)，或光電轉(zhuǎn)化效率IPCE 等，廣義來說，就是太陽能電池的光電特性在不同波長光照條件下的數(shù)值，所謂光電特性包括：光生電流、光導(dǎo)等。為了使保養(yǎng)、保護(hù)能夠方便進(jìn)行，我們在設(shè)計(jì)階段就充分考慮，制作成確保保養(yǎng)、保護(hù)工作順利進(jìn)行的結(jié)構(gòu)。另外，故障修理和調(diào)試工作將由大塚電子進(jìn)行?關(guān)于服務(wù)體制等，請另行撰寫保養(yǎng)合同進(jìn)行商定?