影響直讀光譜儀分析質量的因素

狹縫       

光譜儀采用了一個復雜而又敏感的光學系統(tǒng)。在此條件下可進行如下校準：標準化即再校準工作曲線，然后可用到的校準方法有：(1)、修改持久工作曲線法（修改標準化參數(shù)）(2)、控樣法。光譜儀的環(huán)境溫度，濕度，機械振動，以及大氣壓的變化，都會使譜線產生微小的變化而造成譜線的偏移。氣壓和濕度變化會改變介質的折射率，從而使譜線發(fā)生偏移，濕度的提高不僅會使空氣的折射率增大，而且會對光學零件產生腐蝕作用，降底了儀器透光率，濕度一般應控制在55%-60%以下。溫度對光柵的影響主要改變光柵常數(shù)，使角色散率發(fā)生變化，產生譜線漂移。這些變化會使光譜線不能完全對準相應的出射狹縫，從而影響分析結果。因此光學系統(tǒng)每天至少調整一次，若室內溫度控制恒定．即使天氣變化不大，每周也要調整狹縫二次。

直讀光譜儀的儀器原理

朗鐸科技——專業(yè)直讀光譜儀供應商，我們?yōu)槟鷰硪韵滦畔ⅰ?

金屬試樣（電極）與電極之間進行電弧、電火花放電，對由此產生的輝線光譜進行光電測定，進行所含元素的定量方法。其次，化學分析完成后，試劑的處理是一個難點，隨意處置會造成環(huán)境污染。分析試樣使用光源電源激發(fā)，這時產生的光通過聚光透鏡由入口狹縫進入，導向凹面衍射光柵上，只讀取在凹面衍射光柵上分光的光中所需的光譜線，使用儀器上的光電 倍增管將光轉化成電流。

直讀光譜儀的儀器結構

以下是朗鐸科技為您一起分享的內容，朗鐸科技專業(yè)生產直讀光譜儀，歡迎新老客戶蒞臨。

? 光譜分析：使用光譜儀，采用放電方式對試樣中所含分析元素進行激發(fā)，根據(jù)測量原子譜線的光譜強度，進行定量分析的方法。

? 光電測光法：采用光電倍增管檢測光強度的測定法。

? 電極：作為形成放電間隙的試樣和對電極的總稱。

? 予放電時間：設定從放電開始到激發(fā)強度穩(wěn)定這一段的非積分時間。

? ya氣：在電極周圍形成流動的ya保護氣罩，以降低試樣影響，減少空氣中氧的吸收，確保放電穩(wěn)定。

? 分析試樣：供檢測用試樣。

? 標準試樣：根據(jù)JIS（日本工業(yè)標準）或其它相應標準的化學分析方法結合分析元素含量定值，用于制作檢量線用的試樣。

? 標準化試樣：儀器運行上段時間或檢測一定數(shù)日的試樣后，對檢量線進行校正所使用的ya樣。

直讀光譜儀的校準手段有哪些?

A 光譜儀的校準如下：

描跡是對光譜儀的光學系統(tǒng)進行的校準。這是校準的首要前提。在此條件下可進行如下校準： 標準化即再校準工作曲線，然后可用到的校準方法有：

(1)、修改持久工作曲線法（修改標準化參數(shù)）

(2)、控樣法；

(3)、類型標準化法。

B (1).機械校準

(2).光學校準

(3).電氣校準

(4).軟件校準

C我覺得校準應該是包括硬件校準和軟件校準。

硬件包括狹縫校準、入射窗口清潔、負高壓系統(tǒng)、光電轉換等。這是儀器正常工作的先覺條件。

軟件包括：完全標準化，類型標準化（控樣校準）等。完全標準化是用于校正儀器的漂移而引起的工作曲線的變化。而控樣校準可以修正樣品冶煉方式與工作曲線（即與做工作曲線的標樣的冶煉方式的差異）。

儀器的校準應先由硬件開始，然后才是軟件。

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