ATE是Automatic Test Equipment的縮寫，根據(jù)客戶的測(cè)試要求、圖紙及參考方案，采用MCU、PLC、PC基于VB、VC開發(fā)平臺(tái)，利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技術(shù)開發(fā)、設(shè)計(jì)各類自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備。

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ATE自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)對(duì)開發(fā)人員的支持

　　節(jié)省一半以上的測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)時(shí)間，開發(fā)人員可以將注意力集中在測(cè)試項(xiàng)目的開發(fā)上，而不用考慮諸如界面等復(fù)雜且工作量大的部分；支持多種開發(fā)語言，例如C語言和Tcl等腳本語言，適用于各種情況統(tǒng)一的平臺(tái)使測(cè)試軟件的代碼重用性大大提高，實(shí)現(xiàn)了面向信號(hào)測(cè)試程序開發(fā)。-------------------------------------------

ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的使用領(lǐng)域

　　民用、通信電子胸膛，民用、航空航天電子系統(tǒng)，民用艦船用電子系統(tǒng)，汽車、化工、能源、交通、生產(chǎn)電子系統(tǒng)（如：電子監(jiān)測(cè)，高速火車控制系統(tǒng)檢測(cè)，電控設(shè)備檢測(cè)，生產(chǎn)線上電路板或單元電路檢測(cè)等）等。

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