老化測(cè)試柜，包括柜體和設(shè)置在柜體內(nèi)的恒溫加熱設(shè)備，還包括設(shè)置在柜體內(nèi)的電控箱和測(cè)試模組；測(cè)試模組包括：產(chǎn)品測(cè)試載板，以及與產(chǎn)品測(cè)試載板對(duì)應(yīng)設(shè)置的測(cè)試探針基板；

測(cè)試探針基板的一面排布有若干測(cè)試探針，另一面與電控箱電性連接；測(cè)試探針與產(chǎn)品測(cè)試載板上的測(cè)試產(chǎn)品連接，實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)試產(chǎn)品的供電和信息監(jiān)控。

產(chǎn)品測(cè)試載板上設(shè)置有若干整列排布的用于容納測(cè)試產(chǎn)品的卡槽，卡槽邊緣的產(chǎn)品測(cè)試載板上還設(shè)有感應(yīng)片，該感應(yīng)片電性連接到測(cè)試產(chǎn)品上；產(chǎn)品測(cè)試時(shí)，部分測(cè)試探針直接連接測(cè)試產(chǎn)品，部分測(cè)試探針通過連接感應(yīng)片間接連接測(cè)試產(chǎn)品。

如何防止LED產(chǎn)品老化

在LED應(yīng)用中我們經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)這種問題， LED在產(chǎn)品焊接開始時(shí)就開始正常工作，但是一段時(shí)間后照明會(huì)出現(xiàn)諸如昏暗的燈光，閃爍，故障，間歇性的亮燈現(xiàn)象，給產(chǎn)品帶來嚴(yán)重的危害產(chǎn)品。這種現(xiàn)象的原因如下：

1，產(chǎn)品的應(yīng)用中，焊接溫度過高，焊接時(shí)間過長(zhǎng)，未做好防靜電等，這些問題都是由封裝工藝引起的。

2。由LED本身的質(zhì)量或生產(chǎn)過程引起。

老化是電子產(chǎn)品可靠性的重要保證，是必不可少的生產(chǎn)步驟。老化后的LED產(chǎn)品可以提高了效率，并有助于以后的使用效率穩(wěn)定性.LED老化測(cè)試方法是基于產(chǎn)品失效率曲線的特性，以提高產(chǎn)品的可靠性.LED老化方法包括恒流老化和恒壓老化。恒流源是指電流在任何時(shí)候都是恒定的，否則就是交流電或脈動(dòng)電流。恒流老化是z符合LED電流工作特性的，是LED老化的z科學(xué)方法。