影響原子熒光空白的因素

酸的影響作為原子熒光的載流和標準試劑的基體，酸對原子熒光的影響十分的突出。對于本底熒光強度漂移，可以空啟動儀器不進樣，確認是哪個通道的燈不穩(wěn)定產(chǎn)生的，也可實際測量，看儀器熒光強度是否有漂移，如有，則有可能是由泵管的疲勞引起的漂移，但泵管疲勞的確認是在排除光源和本底漂移后方可判定。一般在原子熒光中使用的酸主要有兩種-鹽酸和。由于在原子化過程中需要把反應以后過多的酸，驅(qū)除出去，而比之鹽酸更加難以的去除，因此我們習慣上使用鹽酸來作為原子熒光使用的酸。但是現(xiàn)行市場上所能購買到的鹽酸，其穩(wěn)定性變化很大，同一種酸不同的批號相差也非常的大。而酸對原子熒光的影響主要體現(xiàn)在空白值上面，質(zhì)量差一點的酸，對空白的影響要大得多。

負高壓對空白值的影響負高壓對原子熒光空白值的影響十分明顯，特別是在空白值很高的情況下，負高壓能起到很好的調(diào)節(jié)作用，使所測量的數(shù)據(jù)準確、可靠。檢測器與激發(fā)光束成直角配置，以避免激發(fā)光源對檢測原子熒光信號的影響。在儀器條件的選擇中，增大負高壓，所測的信號強度也隨之增大，但過高的負高壓會產(chǎn)生較大噪聲。負高壓過高過時信號很不穩(wěn)定，過低的話靈敏度不夠，使所測數(shù)據(jù)不確定度增大。實驗表明，負高壓為260~320V時，信號強度值重現(xiàn)性好。