一鍵測(cè)量?jī)x的行程

      一鍵測(cè)量?jī)x的行程：如有X﹨Y的行程有300mm ╳ 200mm，400mm ╳ 300mm，,500mm ╳ 400mm，,600mm ╳700mm。Z軸行程有效空間200mm,調(diào)焦行程200mm，工作距離90mm。大理石臺(tái)面尺寸有360mm ╳ 460mm，560mm ╳ 460mm，660mm ╳ 560mm，玻璃臺(tái)面尺寸350mm ╳ 250mm，450mm ╳ 350mm，550mm ╳ 450mm，600╳700mm。一鍵測(cè)量?jī)x根據(jù)客戶的產(chǎn)品尺寸大小，設(shè)計(jì)出不同的測(cè)量行程，從而讓客戶根據(jù)自己產(chǎn)品大小選擇一鍵測(cè)量?jī)x的型號(hào)，滿足客戶的

一鍵測(cè)量?jī)x

 一鍵測(cè)量?jī)x是如果建立坐標(biāo)系：

 (1)自動(dòng)確立機(jī)械坐標(biāo)系機(jī)械坐標(biāo)系無需用戶建立，軟件自動(dòng)確立了機(jī)械坐標(biāo)系。

 (2)建立工件坐標(biāo)系的步驟 

    ①：測(cè)出需要的坐標(biāo)系原點(diǎn)及方向 

    ②：在圖形區(qū)上選擇兩個(gè)已測(cè)量元素（點(diǎn)/線，線/線，線/圓）即可以該兩元素為參考點(diǎn)建立 坐標(biāo)系（本處以兩線為例）。

    ③：點(diǎn)擊“坐標(biāo)系”標(biāo)識(shí)件 

    ④：點(diǎn)擊“設(shè)置”按鈕，設(shè)置坐標(biāo)系的方向、旋轉(zhuǎn)、平移。

?一鍵測(cè)量?jī)x的誤差來源？

    在影像測(cè)量?jī)x上的測(cè)量均是單軸或二維平面坐標(biāo)的測(cè)量,測(cè)量時(shí)先對(duì)焦,后對(duì)準(zhǔn),再讀數(shù)(計(jì)數(shù)),然后計(jì)算處理。讀數(shù)來自于標(biāo)尺即光柵系統(tǒng),對(duì)焦對(duì)準(zhǔn)依靠顯微鏡光學(xué)系統(tǒng),還有一個(gè)直接影響測(cè)量效果和精度的照明光源,因?yàn)?基于影像方法測(cè)量的儀器,如果被測(cè)件不能被有效正確的照明,則測(cè)量的結(jié)果顯然要偏離其真實(shí)尺寸。除前述因素外,環(huán)境條件也是制約測(cè)量精度不可忽視的因素。

    基于上述分析,可以歸納出以下幾個(gè)方面的誤差來源:

a、光柵計(jì)數(shù)尺的誤差;

b、工作臺(tái)移動(dòng)時(shí)存在的直線度、角擺帶來的誤差;

c、工作臺(tái)兩測(cè)量軸垂直度帶了的誤差;

d、顯微鏡光軸與工作臺(tái)面不垂直帶了的誤差;

e、測(cè)量室溫度帶來的誤差;

f、光源照明條件的變化帶來的對(duì)焦和對(duì)準(zhǔn)誤差。

     在這幾種因素中,前四項(xiàng)誤差,是硬件誤差,在儀器制造過程中已經(jīng)形成并固定下來,一般無法改變;溫度影響帶來的誤差,通過控制測(cè)量室的溫度和等溫過程來減小其影響。

     其中有一項(xiàng)則常被忽視,而在實(shí)際測(cè)量中,當(dāng)光源照明條件改變時(shí),直接影響被測(cè)工件的照明效果和影像質(zhì)量,主要是因?yàn)橛跋駵y(cè)量?jī)x的圖像是通過CCD接收,盡管CCD具有自動(dòng)調(diào)節(jié)增益的功能,但當(dāng)亮度過大時(shí)即失去調(diào)節(jié)功能,導(dǎo)致被測(cè)工件影像在縮小,當(dāng)亮度過低時(shí),工件影像反而變大。

     這種影響,對(duì)于測(cè)量具有重復(fù)圖形結(jié)構(gòu)之間的間距時(shí),只要整個(gè)測(cè)量過程中照明條件保持不變,其影響可以忽略,因?yàn)槊總€(gè)重復(fù)圖形結(jié)構(gòu)都同時(shí)在變大或變小,間距的測(cè)量計(jì)算直接消除了影像變形的影響,如測(cè)量玻璃尺、網(wǎng)格板刻線間距;除了這種特殊情形外,如測(cè)量圓的直徑、工件的長(zhǎng)度和寬度,都將帶來明顯的誤差。