NDC X射線高能測厚儀TVXR-2的測量原理

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NDC X射線高能測厚儀于x射線和同位素測量領(lǐng)域

NDC X射線高能測厚儀測量原理

NDC X射線高能測厚儀通過準(zhǔn)確測量穿透金屬的一定能量束(X射線或同位素)的衰減量來測量厚度。由于傳感器固有的特性源于射線源和檢測器的設(shè)計(jì)，NDC X射線高能測厚儀根本無需標(biāo)定樣板和測量目標(biāo)的偏差。正是這種高度穩(wěn)定性使得所有的傳感器(X-射線或同位素)得以在工廠完成一次性校正’并且提供覆蓋全量程范圍的一致精度而不只是“在”或“靠近”目標(biāo)的厚度。人機(jī)接口(HMl)以圖表的形式顯示系統(tǒng)數(shù)據(jù)和狀態(tài)，如趨勢圖、立面圖和直方圖等。

NDC X射線高能測厚儀提供每一個(gè)等級的合金補(bǔ)償曲線。作為選項(xiàng)，全物理模式在已知化學(xué)成分的基礎(chǔ)上通過計(jì)算獨(dú)特的補(bǔ)償曲線來獲得更高的精度。

NDC X射線鍍層測量儀FVXR-1的測量原理

北京中達(dá)信泰科技有限公司專業(yè)供應(yīng)NDC測厚儀，我們?yōu)槟治鲈摦a(chǎn)品的以下信息。

NDC FVXR-1 測量儀利用X射線束激發(fā)金屬能或熒光來測量金屬涂層。金屬涂層原子吸收這些X射線后，帶有一定能量的光子從原子力釋放出來。釋放光子所需能量的大小取決于涂料的多少，一個(gè)環(huán)形離子室被用來接收這些能量并將之轉(zhuǎn)換為一個(gè)信號，測量儀計(jì)算機(jī)在高頻下處理這個(gè)信號來測量涂層重量。4、薄膜測厚儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。

NDC X射線鍍層測量儀FVXR-1元件介紹

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傳感器元件根據(jù)被測涂料的不同來優(yōu)化和標(biāo)定。測量儀是用在實(shí)驗(yàn)室測量從生產(chǎn)線取得的真實(shí)樣品來標(biāo)定的。每一種涂料都有其特定的標(biāo)定曲線。

NDC FVXR-1 測量儀的設(shè)計(jì)利用有效的離子室，對信號處理計(jì)算機(jī)長距離均勻放大及傳輸?shù)臏y量信號來保證在低時(shí)間常數(shù)（10ms）上的低統(tǒng)計(jì)干擾。