RoHS分析儀的分析原理

ROHS檢測(cè)儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通?？煞譃閮纱箢?，波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長(zhǎng)色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測(cè)角儀、探測(cè)器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件，相對(duì)簡(jiǎn)單。通過(guò)檢測(cè)特征X射線的能量和強(qiáng)度，即可得到樣品的組成成分和含量。

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RoHS檢測(cè)儀類型介紹

GY-MARS/T5800型RoHS檢測(cè)儀，采用幾何優(yōu)化設(shè)計(jì)的大面積、美國(guó)原裝進(jìn)口SDD探測(cè)器，靈敏度更高，配備美國(guó)原廠的第五代數(shù)字信號(hào)處理器，檢測(cè)結(jié)果更準(zhǔn)確，重現(xiàn)性更好。

GY-MARS/T5800型RoHS分析儀，價(jià)值之選，不必以犧牲性能為代價(jià)，您將獲得一款性價(jià)比高、質(zhì)量可靠的RoHS分析儀，除了能夠進(jìn)行RoHS檢測(cè)外，還可以進(jìn)行無(wú)鹵素測(cè)試、鍍層檢測(cè)等。

GY-MARS/T5800提供針對(duì)各種材料的專用測(cè)量模式，測(cè)試結(jié)果更加準(zhǔn)確，并可根據(jù)用戶要求擴(kuò)展模式。

X熒光光譜分析儀

X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度，可以測(cè)定元素含量。

近年來(lái)，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域的檢測(cè)設(shè)備，特別是在RoHS檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用得較多也廣泛。

大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為P到U。并且具有分析速度快、測(cè)量范圍寬、干擾小的特點(diǎn)。

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