內(nèi)窺鏡結(jié)構(gòu)解析

內(nèi)窺鏡是一種融合了精密機(jī)械、電子技術(shù)、光學(xué)等多項(xiàng)技術(shù)的新型無(wú)損檢測(cè)儀器。良好的精密機(jī)械設(shè)計(jì)和信號(hào)收集處理是電子內(nèi)窺鏡的技術(shù)核心，需要建立完整的能夠流暢進(jìn)行彎曲控制的機(jī)構(gòu)和完成圖像收集與遠(yuǎn)距離傳輸?shù)膯卧？傮w來(lái)說(shuō)，其原理主要是通過(guò)CMOS或CCD圖像傳感器將圖像光信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào)，經(jīng)過(guò)處理后，再還原為光信號(hào)，經(jīng)過(guò)顯示屏進(jìn)行圖像的呈現(xiàn)。

內(nèi)窺鏡的特性

普通的硬管內(nèi)窺鏡都不耐高溫高壓，主要是由于封裝膠在高溫下會(huì)變質(zhì)、變形，窺鏡就會(huì)開(kāi)膠進(jìn)水，所以不可用煮沸和高壓蒸汽等高溫高壓的方法消毒。大多數(shù)硬管內(nèi)窺鏡的損壞都是由于不注意保養(yǎng)、磕碰、落地等原因造成的。也有個(gè)別生產(chǎn)廠的封裝膠、封裝技術(shù)、封裝結(jié)構(gòu)有問(wèn)題，造成窺鏡進(jìn)水、開(kāi)膠的現(xiàn)象，這些都是可以修復(fù)的 。

內(nèi)窺鏡多種測(cè)量的比較分析

每一種測(cè)量方法都有很多測(cè)量模式，如長(zhǎng)度、點(diǎn)到線、面積等等，這些模式在采用工業(yè)內(nèi)窺鏡進(jìn)行民航發(fā)動(dòng)機(jī)孔探工作當(dāng)中都有著非常重要的應(yīng)用。

對(duì)于長(zhǎng)度（點(diǎn)到點(diǎn))、折線長(zhǎng)度(多線段)、面積的測(cè)量，單物鏡陰影測(cè)量法、雙物鏡測(cè)量法和三維相位掃描測(cè)量法均可實(shí)現(xiàn)，但由于3D鏡頭的單視窗、廣角設(shè)計(jì)，一次性有效測(cè)量區(qū)域是其他測(cè)量技術(shù)的兩倍以上。對(duì)于發(fā)動(dòng)機(jī)內(nèi)較長(zhǎng)的裂紋、劃傷或者大面積的涂層脫落以及要確定損傷部位的相對(duì)位置等需要測(cè)量的缺陷或定位，采用三維相位掃描測(cè)量法有可能僅通過(guò)一次性操作即可獲得準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果。

而采用雙物鏡進(jìn)行分段測(cè)量時(shí)，特征點(diǎn)不易被找到，或者邊界點(diǎn)不好確定，有時(shí)為了分區(qū)還需要不斷通過(guò)導(dǎo)向操作來(lái)改變鏡頭角度。需要幾次測(cè)量操作之后再將結(jié)果累加，不僅工作量增加而且很難保證測(cè)量精度。較大面積的涂層脫落情況(如圖10所示)使用三維相位掃描測(cè)量法均能夠通過(guò)一次測(cè)量得到準(zhǔn)確、有效的缺陷數(shù)據(jù)。