常用無(wú)損探傷方法

射線探傷(RT):射線通常指Χ射線、γ射線、α射線、β射線和中子射線等，其基本原理(圖1-1)：射線在穿過(guò)物質(zhì)的過(guò)程中，會(huì)受到物質(zhì)的散射和吸收作用，因物體材料、缺陷和穿透距離的不同，射線強(qiáng)度將產(chǎn)生不同程度的衰減，這樣，當(dāng)把強(qiáng)度均勻的射線照射到物體的一側(cè)，使透過(guò)的射線在物體另一側(cè)的膠片上感光，把膠片顯影后，得到與材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)和缺陷相對(duì)應(yīng)的黑度不同的圖像，即射線底片。通過(guò)對(duì)圖像的觀察分析，終確定物體缺陷的種類、大小和分布情況。射線探傷適用于體積形缺陷探測(cè)。如氣孔、夾碴、縮孔、疏松等，對(duì)片形缺陷檢測(cè)較難。

渦流檢測(cè)（ET）

渦流檢測(cè)的基本原理：將通有交流電的線圈置于待測(cè)的金屬板上或套在待測(cè)的金屬管外（見(jiàn)圖）。這時(shí)線圈內(nèi)及其附近將產(chǎn)生交變磁場(chǎng)，使試件中產(chǎn)生呈旋渦狀的感應(yīng)交變電流，稱為渦流。渦流的分布和大小，除與線圈的形狀和尺寸、交流電流的大小和頻率等有關(guān)外，還取決于試件的電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、形狀和尺寸、與線圈的距離以及表面有無(wú)裂紋缺陷等。因而，在保持其他因素相對(duì)不變的條件下，用一探測(cè)線圈測(cè)量渦流所引起的磁場(chǎng)變化，可推知試件中渦流的大小和相位變化，進(jìn)而獲得有關(guān)電導(dǎo)率、缺陷、材質(zhì)狀況和其他物理量(如形狀、尺寸等)的變化或缺陷存在等信息。但由于渦流是交變電流，具有集膚效應(yīng)，所檢測(cè)到的信息僅能反映試件表面或近表面處的情況。

在無(wú)損檢測(cè)技術(shù)發(fā)展過(guò)程中出現(xiàn)三個(gè)名稱，即：無(wú)損探傷(Non-destructive lnspction)，無(wú)損檢測(cè)(Non-destructive Testing)，無(wú)損評(píng)價(jià)( Non-destructive evaluation)。一般認(rèn)為，這三個(gè)名稱體現(xiàn)了無(wú)損檢測(cè)技術(shù)發(fā)展的三個(gè)階段，其中無(wú)損探傷是早期階段的名稱，其內(nèi)涵是探測(cè)和發(fā)現(xiàn)缺陷；無(wú)損檢測(cè)是當(dāng)前階段的名稱，其內(nèi)涵不僅僅是探測(cè)缺陷，還包括探測(cè)試件的一些其它信息。而無(wú)損評(píng)價(jià)則是即將進(jìn)入或正在進(jìn)入的發(fā)展階段，無(wú)損評(píng)價(jià)包涵更廣泛，更深刻的內(nèi)容，它不僅要求發(fā)現(xiàn)缺陷，探測(cè)試件的結(jié)構(gòu)、性質(zhì)、狀態(tài)，還要求獲取更準(zhǔn)確的、綜合的信息。

無(wú)損檢測(cè)包括射線檢測(cè)（RT）、超聲檢測(cè)（UT）、磁粉檢測(cè)（MT）、滲透檢測(cè)（PT）和渦流檢測(cè)（ET）等五種檢測(cè)方法。主要應(yīng)用于金屬材料制造的機(jī)械、器件等的原材料、零部件和焊縫，也可用于玻璃等其它制品。

射線檢測(cè)適用于碳素鋼、低合金鋼、鋁及鋁合金、鈦及鈦合金材料制機(jī)械、器件等的焊縫及鋼管對(duì)接環(huán)縫。射線對(duì)人體不利，應(yīng)盡量避免射線的直接照射和散射線的影響。

超聲檢測(cè)系指用A型脈沖反射超聲波探傷儀檢測(cè)缺陷，適用于金屬制品原材料、零部件和焊縫的超聲檢測(cè)以及超聲測(cè)厚。