應(yīng)用領(lǐng)域半導(dǎo)體電子行業(yè)：半導(dǎo)體晶圓片、封裝器件、大功率器件IGBT、紅外器件、光電傳感器件、SMT貼片器件、MEMS等;材料行業(yè)：復(fù)合材料、鍍膜、電鍍、注塑、合金、超導(dǎo)材料、陶瓷、金屬焊接、摩擦界面等；生物醫(yī)學(xué)：細胞動態(tài)研究、骨骼、血管的研究等。蘇州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類測試、檢測儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務(wù)，產(chǎn)品涵蓋電子元器件，電路板，線纜線束的測試與檢測。設(shè)備主要來自于歐美日等先進測試設(shè)備制造國家。


對于故障分析而言，微光顯微鏡(Emission Microscope, EMMI)是一種相當有用且效率極高的分析工具。主要偵測IC內(nèi)部所放出光子。在IC元件中，EHP(Electron Hole Pairs) Recombination會放出光子(Photon)。舉例說明：在P-N 結(jié)加偏壓，此時N阱的電子很容易擴散到P阱，而P的空穴也容易擴散至N然後與P端的空穴（或N端的電子）做 EHP Recombination。


同時利用光誘導(dǎo)的電阻，它的主要原理是利用激光電視，在恒定電壓之下進行掃描，通過一部分能量轉(zhuǎn)化為熱能，可以關(guān)注它所發(fā)生的實際變化。這樣在檢測的過程當中，效率就會得到大幅度的提高。因此在檢測芯片的過程當中，其實有很多比較重要的方法，客戶可以去關(guān)注emmi檢測和他的分析方式，目前國內(nèi)關(guān)于芯片的檢測機構(gòu)并不是特別的成熟。

體視顯微鏡OM無損檢測

體視顯微鏡，亦稱實體顯微鏡或解剖鏡。是一種具有正像立體感的目視儀器，從不同角度觀察物體，使雙眼引起立體感覺的雙目顯微鏡。對觀察體無需加工制作，直接放入鏡頭下配合照明即可觀察，成像是直立的，便于操作和解剖。視場直徑大，但觀察物要求放大倍率在200倍以下。顯微鏡可用于電子精密部件裝配檢修，紡織業(yè)的品質(zhì)控制的輔助鑒別及各種物質(zhì)表面觀察等領(lǐng)域，實現(xiàn)樣品外觀、形貌檢測 、制備樣片的觀察分析、封裝開帽后的檢查分析和晶體管點焊檢查等功能。< br />< br />著作權(quán)歸作者所有。