超景深顯微鏡是一種雙目觀察的連續(xù)變倍實(shí)體顯微鏡，專為要求工作距離長，觀察視域大的用戶而設(shè)計(jì)，成像清晰，外形美觀。　　產(chǎn)品用途：超景深顯微鏡能將微小的物體加以放大，形成清晰正的立體像。可供衛(wèi)生、農(nóng)林、、學(xué)校、科研部門作觀察分析用，也適用于電子工業(yè)和儀器儀表行業(yè)作精細(xì)零部件的檢驗(yàn)、裝配、修理。　　連續(xù)變倍單筒視頻顯微鏡提供的光學(xué)系統(tǒng)和耐用可靠的操作機(jī)構(gòu)。

超聲波掃描顯微鏡的應(yīng)用領(lǐng)域半導(dǎo)體電子行業(yè)：  半導(dǎo)體晶圓片、封裝器件、大功率器件IGBT、紅外器件、光電傳感器件、SMT貼片器件、MEMS等；  材料行業(yè)：復(fù)合材料、鍍膜、電鍍、注塑、合金、超導(dǎo)材料、陶瓷、金屬焊接、摩擦界面等；生物醫(yī)學(xué)：細(xì)胞動(dòng)態(tài)研究、骨骼、血管的研究等。 超聲波掃描顯微鏡有兩種工作模式：基于超聲波脈沖反射和透射模式工作的。反射模式是主要的工作模式，它的特點(diǎn)是分辨率高，對待測樣品厚度的沒有限制。透射模式只在半導(dǎo)體企業(yè)中用作器件篩選。    

微光顯微鏡偵測得到亮點(diǎn)之情況：會產(chǎn)生亮點(diǎn)的缺陷 - 漏電結(jié)（Junction Leakage）; 接觸毛刺（Contact spiking）; （熱電子效應(yīng)）Hot electr;閂鎖效應(yīng)（ Latch-Up）;氧化層漏電（ Gate oxide defects / Leakage(F-N current)）;多晶硅晶須（Poly-silicon filaments）; 襯底損傷（Substrate damage）; （物理損傷）Mechanical damage等。原來就會有的亮點(diǎn) - Saturated/ Active bipolar transistors; -Saturated MOS/Dynamic CMOS; Forward biased diodes/Reverse；biased diodes(break down) 等。

體視顯微鏡OM無損檢測

體視顯微鏡，亦稱實(shí)體顯微鏡或解剖鏡。是一種具有正像立體感的目視儀器，從不同角度觀察物體，使雙眼引起立體感覺的雙目顯微鏡。對觀察體無需加工制作，直接放入鏡頭下配合照明即可觀察，成像是直立的，便于操作和解剖。視場直徑大，但觀察物要求放大倍率在200倍以下。顯微鏡可用于電子精密部件裝配檢修，紡織業(yè)的品質(zhì)控制的輔助鑒別及各種物質(zhì)表面觀察等領(lǐng)域，實(shí)現(xiàn)樣品外觀、形貌檢測 、制備樣片的觀察分析、封裝開帽后的檢查分析和晶體管點(diǎn)焊檢查等功能。< br />< br />著作權(quán)歸作者所有。