Phasc12測(cè)試來(lái)的數(shù)據(jù)，器件有四個(gè)層次。其中個(gè)是芯片下的粘接層的阻抗值，后面Tau是完成的測(cè)試時(shí)間，四個(gè)層次的阻抗值之和就是這個(gè)器件的熱阻值。并且每一-個(gè)拐點(diǎn) 都表明熱進(jìn)入了一個(gè)新的層次。每個(gè)層次的數(shù)據(jù)將表明這個(gè)器件不同層向外散熱的好壞，對(duì)不同廠家同類產(chǎn)品而言，可以讓我們選擇熱阻值非常好的廠家;同時(shí)它也可以檢測(cè)同- ~廠家，同類產(chǎn)品，不同批次質(zhì)量的差異，從而評(píng)測(cè)出該廠家生產(chǎn)工藝的穩(wěn)定性。主要用于測(cè)試二極管，三極管，線形調(diào)壓器，可控硅，LED, MOSFET，MESFET ,IGBT，IC等分立功率器件的熱阻測(cè)試及分析。

無(wú)損檢測(cè)是工業(yè)發(fā)展的有效工具，在一定程度上反映了一個(gè)國(guó)家的工業(yè)發(fā)展水平，無(wú)損檢測(cè)的重要性已得到公認(rèn)。主要有射線檢驗(yàn)（RT）、超聲檢測(cè)（UT）、磁粉檢測(cè)（MT）和液體滲透檢測(cè)（PT） 四種。其他無(wú)損檢測(cè)方法有渦流檢測(cè)（ECT）、聲發(fā)射檢測(cè)（AE）、熱像/紅外（TIR）、泄漏試驗(yàn)（LT）、交流場(chǎng)測(cè)量技術(shù)（ACFMT）、漏磁檢驗(yàn)（MFL）、遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試檢測(cè)方法（RFT）、超聲波衍射時(shí)差法（TOFD）等。


一些看上去非常傳統(tǒng)的無(wú)損檢測(cè)方法，實(shí)際上也已經(jīng)發(fā)展出了許多新技術(shù)，譬如：射線檢測(cè)——傳統(tǒng)技術(shù)是：膠片射線照相（X 射線和伽馬射線）。新技術(shù)有：高能X射線照相、數(shù)字射線成像（DR）、計(jì)算機(jī)射線照相（CR，類似于數(shù)碼照相）、計(jì)算機(jī)層析成像（CT）、射線衍射等等。超聲檢測(cè)——傳統(tǒng)技術(shù)是：A 型超聲（A 掃描超聲，A 超）。新技術(shù)有：B 掃描超聲、C 掃描超聲（C 超）、超聲衍射（TOFD）、相控陣超聲、共振超聲、電磁超聲、超聲導(dǎo)波等等。


磁粉檢測(cè)（MT）磁粉檢測(cè)原理：鐵磁性材料和工件被磁化后，由于不連續(xù)性的存在，使工件表面和近表面的磁力線發(fā)生局部畸變而產(chǎn)生漏磁場(chǎng)，吸附施加在工件表面的磁粉，形成在合適光照下目視可見(jiàn)的磁痕，從而顯示出不連續(xù)性的位置、形狀和大小。州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類測(cè)試、檢測(cè)儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務(wù)，產(chǎn)品涵蓋電子元器件，電路板，線纜線束的測(cè)試與檢測(cè)。設(shè)備主要來(lái)自于歐美日等先進(jìn)測(cè)試設(shè)備制造國(guó)家。