Phase12 熱阻測(cè)試儀產(chǎn)自美國(guó) Analysis Tech(Anatech)公司，符合美軍標(biāo)和 JEDEC 標(biāo)準(zhǔn).

      Analysis Tech Inc.成立于 1983 年，坐落于波士頓北部，是電子封裝器件可靠性測(cè)試的國(guó)際設(shè)計(jì)，制造公司。創(chuàng)始人 John W.Sofia 是美國(guó)麻省理工的博士，并且是提出焊點(diǎn)可靠性,熱阻分析和熱導(dǎo)率理論的. 發(fā)表了很多關(guān)于熱阻測(cè)試于分析，熱導(dǎo)率及焊點(diǎn)可靠性方面的. Analysis Tech Inc.在美國(guó)有獨(dú)立的實(shí)驗(yàn)室提供技術(shù)支持. 在全世界熱阻測(cè)試儀這套設(shè)備有幾百家客戶(hù).

      主要用于測(cè)試二極管，三極管，線(xiàn)形調(diào)壓器，可控硅，LED，MOSFET，MESFET ,IGBT，IC 等分立功率器件的熱阻測(cè)試及分析。

射線(xiàn)照相法（RT）是指用X射線(xiàn)或γ射線(xiàn)穿透試件，以膠片作為記錄信息的器材的無(wú)損檢測(cè)方法，該方法是基本的，應(yīng)用的一種非破壞性檢驗(yàn)方法。原理：射線(xiàn)能穿透肉眼無(wú)法穿透的物質(zhì)使膠片感光，當(dāng)X射線(xiàn)或γ射線(xiàn)照射膠片時(shí)，與普通光線(xiàn)一樣，能使膠片乳劑層中的鹵化銀產(chǎn)生潛影，由于不同密度的物質(zhì)對(duì)射線(xiàn)的吸收系數(shù)不同，照射到膠片各處的射線(xiàn)強(qiáng)度也就會(huì)產(chǎn)生差異，便可根據(jù)暗室處理后的底片各處黑度差來(lái)判別缺陷。

對(duì)于那些整體密封或者說(shuō)沒(méi)有任何透氣孔的產(chǎn)品,就需要?dú)饷苄詸z測(cè)儀采用正壓也就是加壓方式來(lái)檢測(cè)密封性了, 這時(shí)候的防水

測(cè)試治具內(nèi)部密封腔體就是間接測(cè)試要用到的，正壓法采用的就是往這個(gè)包含產(chǎn)品的氣密性防水測(cè)試治具內(nèi)腔充入一定壓力的干

燥壓縮空氣,然后通過(guò)氣密性檢測(cè)儀設(shè)備內(nèi)的精密傳感器實(shí)時(shí)檢測(cè)內(nèi)部氣壓變化,也就是說(shuō),如果這個(gè)電子產(chǎn)品密封性不好,就

會(huì)有氣體進(jìn)入產(chǎn)品內(nèi)部,那么防水測(cè)試治具密封腔體內(nèi)的氣體就會(huì)相應(yīng)的減少,進(jìn)而被檢測(cè)出來(lái),如果泄露量大于允許泄漏量，

氣密性檢測(cè)儀就會(huì)報(bào)警,這樣就將不合格產(chǎn)品甄別出來(lái)。