顯微鏡是很多行業(yè)中對產(chǎn)品質(zhì)量和性能檢測的一個重要儀器，它廣泛的應(yīng)用于各個的科學(xué)研究，教學(xué)實踐，生產(chǎn)質(zhì)量檢測等領(lǐng)域。一般的顯微測試是基于人工調(diào)節(jié)顯微鏡的對焦系統(tǒng)，反復(fù)的手工操作，直到調(diào)到被測對象的正焦位置，這樣一個過程花費時間較長，效率低，并且，人員必須在顯微鏡旁邊，不能遠程調(diào)結(jié)。隨著人們對顯微鏡的自動化、智能化要求的提高，自動對焦技術(shù)的顯得越來越重要了。尤其是有些場和需要人員離開。這就需要一種能夠遠程快速調(diào)焦的顯微鏡，有的產(chǎn)品用電動Z軸調(diào)焦，電動Z軸的缺點是成本高安裝復(fù)雜，速度慢。不能達到毫秒級的調(diào)焦，也不能實現(xiàn)復(fù)眼的效果，（即多焦點）。

超聲波顯微鏡在失效分析中的應(yīng)用

   晶圓面處分層缺陷 錫球、晶圓、或填膠中的開裂晶圓的傾斜各種可能之孔洞（晶圓接合面、錫球、填膠…等）。超聲波顯微鏡的在失效分析中的優(yōu)勢非破壞性、無損檢測材料或IC芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu) 可分層掃描、多層掃描 實施、直觀的圖像及分析 缺陷的測量及缺陷面積和數(shù)量統(tǒng)計 可顯示材料內(nèi)部的三維圖像 對人體是沒有傷害的 可檢測各種缺陷（裂紋、分層、夾雜物、附著物、空洞、孔洞等）      

EMMI (Emission Microscopy)是用來做故障點定位、尋找亮點、熱點(Hot Spot)的工具。其具備高靈敏度的制冷式電荷(光)耦合組件(C-CCD)偵測器，可偵測組件中電子－電洞再結(jié)合時所發(fā)射出來的光子，其光波長在 350 nm ~ 1100 nm，此范圍相當(dāng)于可見光和紅外光區(qū)。蘇州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類測試、檢測儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務(wù)，產(chǎn)品涵蓋電子元器件，電路板，線纜線束的測試與檢測。

半導(dǎo)體常用失效分析檢測儀器;

顯微鏡分析OM無損檢測

金相顯微鏡OM：可用來進行器件外觀及失效部位的表面形狀，尺寸，結(jié)構(gòu)，缺陷等觀察。金相顯微鏡系統(tǒng)是將傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡與計算機（數(shù)碼相機）通過光電轉(zhuǎn)換有機的結(jié)合在一起，不僅可以在目鏡上作顯微觀察，還能在計算機（數(shù)碼相機）顯示屏幕上觀察實時動態(tài)圖像，電腦型金相顯微鏡并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。金相顯微鏡可供研究單位、冶金、機械制造工廠以及高等工業(yè)院校進行金屬學(xué)與熱處理、金屬物理學(xué)、煉鋼與鑄造過程等金相試驗研究之用，實現(xiàn)樣品外觀、形貌檢測  、制備樣片的金相顯微分析和各種缺陷的查找等功能。