詳細分享校準紅外線氣體分析儀

　校準紅外線氣體分析儀目的是為了確保安全生產(chǎn)過程用于監(jiān)視生產(chǎn)氣體中某種氣體體積濃度的儀器的準確性，特質定本自校規(guī)程?！　”疽?guī)程規(guī)定了紅外線氣體分析儀的技術要求，校準設備，校準方法和校準結果的處理，本規(guī)程僅適用于具規(guī)定范圍內(nèi)的紅外線氣體分析儀的校準。

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紅外線氣體分析儀的介紹：

基于氣體對紅外光吸收的郎伯--比爾吸收定律，采用國際上新的NDIR技術， 如電調制紅外光源、高靈敏度濾光傳感一體化紅外傳感器、精度前置放大 電路、可拆卸式鍍膜氣室,局部恒溫控制技術等，實現(xiàn)不同濃度、不同氣體 （SO2、NOX、CO2、CO、CH4等）的精度連續(xù)檢測。

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紅外線氣體分析儀的測量誤差分析

所謂干擾組分就是指與待測組分特征吸收波帶有交叉或重疊的其他組分。為了消除干擾組分的干擾，準確檢測待測組分的濃度，可采取多種措施，如設置濾波氣 室、或干涉濾光片，使這些干擾組分特征吸收波帶的光在進入測量氣室或檢測器之前就被吸收掉，只讓待測組分特征吸收波帶的光通過。

水分干擾：水分廣泛存在于工藝氣體中，生產(chǎn)狀態(tài)的變化，預處理運行的變化，環(huán)境溫度、壓力的變化，都會使進入分析儀中的氣樣的含水量發(fā)生變化。水分在 1~9μm波長范圍內(nèi)幾乎有連續(xù)的吸收帶，其吸收帶和許多組分特征吸收波帶重疊在一起。當兩者的吸收波帶重疊時，即使采取前述措施，也難以消除水分干擾帶 來的測量誤差。因為這些措施對水分和被測組分的作用是完全相同的，由于氣樣中水分的含量會隨時變化，所以很難估計其對測量誤差的影響。減少或降低水分對待 測組分的干擾，目前的有效辦法是在預處理系統(tǒng)中除水脫濕，降低氣樣的露點。常用的辦法是采用帶溫控系統(tǒng)的冷卻器降溫除水。