基于用戶的分析需求，儀器可以定制成十種標準基體的任意組合。

CCD光學系統(tǒng)可以自由選擇120-800nm范圍內的任意譜線用于分析線或參比線。光電管光學系統(tǒng)可設置108個光電倍增管。DSOI技術將傳統(tǒng)垂直觀測系統(tǒng)的靈敏度提高了數(shù)倍，避免了垂直雙觀測結構的復雜缺點和降低了用戶使用成本。每個光電管通道都有是一個微積分器，具有TRS（時間分解光譜技術）分析痕量元素和SSE（單火花評估技術）分析元素相態(tài)。事實上，所有分析要求都可以在M12中無折衷地實現(xiàn)。

光譜儀器是測量、分析和處理物質結構和成分的基本設備，按光譜范圍可分為真空紫外光譜儀、紫外-近紅外光譜儀和紅外光譜儀。

光譜儀主要由光源、分光系統(tǒng)和接收系統(tǒng)3部分組成。其中分光系統(tǒng)是光譜儀器的主體，而衍射光柵（以下簡稱光柵）是分光系統(tǒng)的核心部分，它使復色光發(fā)生空間分離形成光譜。因此，光譜技術的進步及發(fā)展與光柵制造技術水平息息相關。2，技術人員在操作分析儀器之前，應當熟讀儀器產品說明書，或者觀看儀器廠商人員現(xiàn)場演示。根據(jù)光譜儀器的工作原理，光柵在較寬的波段范圍都有較高的衍射效率（衍射光能量與入射光能量之比），同時整個衍射效率曲線比較平滑，這是光柵制造領域始終追求的目標之一。而相較于單閃耀角光柵，寬波段光柵在光譜分析領域具有更獨特且的優(yōu)勢，其光譜更寬，能滿足多種光譜儀全波段使用的需求，使成像探測器更加簡單。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

國產直讀光譜分析儀器1928年以后，由于光譜分析成了工業(yè)的分析方法，光譜儀器得到迅速的發(fā)展，一方面改善激發(fā)光源的穩(wěn)定性，另一方面提高光譜儀器本身性能。六十年代光電直讀光譜儀，隨著計算機技術的發(fā)展開始迅速發(fā)展，1964年ARL公司展示一套數(shù)字計算和控制讀出系統(tǒng)。中國科院電工研究所研究員肖立業(yè)告訴記者：“隨著人類對自然的認識向更加微觀的時空尺度、更大的宇宙時空尺度和更加極端的物理條件方向發(fā)展，傳統(tǒng)的科研手段已經不能完全勝任。由于計算機技術的發(fā)展，電子技術的發(fā)展，電子計算機的小型化及微處理機的出現(xiàn)和普及，成本降低等原因、于上世紀的七十年代光譜儀器幾乎100%地采用計算機控制，這不僅提高了分析精度和速度，而且對分析結果的數(shù)據(jù)處理和分析過程實現(xiàn)自動化控制。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

在實際分析中會受到第三元素的影響，這些干擾從何而來，我們能夠克服它們得到一個好的分析結果嗎？直讀光譜儀應用的過程中受那些干擾?直讀光譜儀中有關第三元素影響的問題

當選擇了不適宜的基體內標時，由于基體含量的變化造成分析線對相對強度的變化，影響結果的穩(wěn)定。當用鐵內標進行低合金鋼分析時，要求基體含量基本不變。

第三元素的存在影響試樣的蒸發(fā)過程。蒸發(fā)過程對譜線強度的影響是復雜的，所得研究規(guī)律還很不完善，仍屬定性的經驗規(guī)律。所以分析時應采用與試樣組成及組織結構盡量一致的標準樣品或控制樣品。

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