UV-PLUS專利光學(xué)系統(tǒng)是純凈的，同時具有杰出的長期穩(wěn)定性。專利系統(tǒng)在120-180nm波段透光效率極佳，運行成本很低。

的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計與UV-PLUS概念相結(jié)合，能夠同時以高達(dá)9pm的光譜分辨率記錄120-800nm波段的全部一級光譜圖。這一核心技術(shù)奠定了SPECTROLAB杰出分析性能的重要基礎(chǔ)。

即開即用：光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定，可抗較大溫度波動。消除了在零度以下進(jìn)行冷卻的需要。先進(jìn)的低噪聲線性陣列CMOS探測器可避免信號溢出。讀出速度快， 動態(tài)范圍寬。

功率強勁：新的LDMOS 1700 W發(fā)生器有助于分析難于分析的各種基體，檢測限更低。無需額外的水冷裝置。整機預(yù)熱時間短，提高檢測效率

占地面積?。簝x器采用了簡約的設(shè)計風(fēng)格，超短進(jìn)樣路徑，所有樣品導(dǎo)入組件都易于查看和維護(hù)。SPECTROGREEN的儀器進(jìn)深短，易于擺放。在儀器預(yù)留足夠的空間放置待測樣品或額外的進(jìn)樣裝置。

操作簡便直觀：新的SPECTRO ICP Analyzer Pro操作軟件可提供簡單直觀的使用體驗。簡化的工作流程由模塊化插件架構(gòu)支持，可根據(jù)每個用戶的需求定制界面。即使有大量數(shù)據(jù)，處理速度也相當(dāng)快 - 比以前的數(shù)據(jù)庫系統(tǒng)快1500倍。版本和用戶管理與出色的審計跟蹤功能相結(jié)合，使分析過程完全透明和可追溯。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

國產(chǎn)直讀光譜分析儀器1928年以后，由于光譜分析成了工業(yè)的分析方法，光譜儀器得到迅速的發(fā)展，一方面改善激發(fā)光源的穩(wěn)定性，另一方面提高光譜儀器本身性能。六十年代光電直讀光譜儀，隨著計算機技術(shù)的發(fā)展開始迅速發(fā)展，1964年ARL公司展示一套數(shù)字計算和控制讀出系統(tǒng)。由于計算機技術(shù)的發(fā)展，電子技術(shù)的發(fā)展，電子計算機的小型化及微處理機的出現(xiàn)和普及，成本降低等原因、于上世紀(jì)的七十年代光譜儀器幾乎100%地采用計算機控制，這不僅提高了分析精度和速度，而且對分析結(jié)果的數(shù)據(jù)處理和分析過程實現(xiàn)自動化控制。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

光譜儀維修必學(xué)的準(zhǔn)則

“先軟后硬”，先檢查軟件程序運行是否正常，再分析硬件運行是否有問題。隨著科學(xué)技術(shù)水平的發(fā)展，電腦在光譜儀中應(yīng)用，使儀器的檢測水平大幅度的提高，功能更趨近于智能化，許多故障都是通過電腦自帶的故障診斷程序，進(jìn)行綜合全的檢測，如當(dāng)儀器顯示真空不良、溫度異常、壓力異常、無積分信號、通訊中斷等顯示時，我們必須是在此基礎(chǔ)之上，順藤摸瓜沿電腦指示的異常信息，去檢查所對應(yīng)的硬件，這樣可以很快的找到故障的根源，縮短維修時間，提高工作效率。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制