蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

德國(guó)蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)在一些行業(yè)中的應(yīng)用。

航空航天

代表產(chǎn)品：卡爾?蔡司帶掃描技術(shù)的三坐標(biāo)CONTURA 

適用理由：蔡司三坐標(biāo)ConTURA  正是航空航天企業(yè)零部件加工尺寸的有力設(shè)備。VAST XXT RDS旋轉(zhuǎn)式探頭專為測(cè)量體積小且有很多角的零件而設(shè)計(jì)，能以2.5度的角度差旋轉(zhuǎn)在20,736個(gè)不同角度進(jìn)行測(cè)量。較之以前的觸發(fā)式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)，此掃描技術(shù)能在較短的時(shí)間內(nèi)得到更多的信息，很明顯的優(yōu)點(diǎn)就是通過(guò)提升效率而降低制造成本。

接觸式測(cè)頭與光學(xué)測(cè)頭

對(duì)于表面數(shù)字化，其目的是要獲取零件表面輪廓，這就需要大量獲取輪廓的空間點(diǎn)坐標(biāo)。而對(duì)于接觸式測(cè)頭來(lái)說(shuō)，一個(gè)一個(gè)點(diǎn)逐次獲取的方式是無(wú)法勝任百萬(wàn)數(shù)量級(jí)點(diǎn)數(shù)的要求的，哪怕是連續(xù)掃描測(cè)頭，也只是通過(guò)測(cè)頭不離開零件表面的方式來(lái)提高取點(diǎn)速度，本質(zhì)上還是單點(diǎn)采集。這類應(yīng)用當(dāng)中，線光源和面光源測(cè)頭就很好彌補(bǔ)了接觸式測(cè)頭的不足，線掃描測(cè)頭通過(guò)一條由若干點(diǎn)的激光在工件表面移動(dòng)，即可掃描出一片區(qū)域;而面拍照測(cè)頭則是通過(guò)一組編碼的光線柵格，一次性獲取一個(gè)特定大小區(qū)域內(nèi)的點(diǎn)云。

在得到了數(shù)字化表面模型后，用戶可以把數(shù)據(jù)用于各種目的，比如和CAD模型做對(duì)比，獲取零件整體/局部輪廓的偏差，三維尺寸測(cè)量或者逆向工程等等。但是這種測(cè)量方式用于尺寸與行為公差測(cè)量時(shí)，通常無(wú)法符合測(cè)量工藝流程的要求(如建立測(cè)量基準(zhǔn)、選擇元素?cái)M合方法、選取評(píng)價(jià)參考等等)。但是，有的零件或出于零件特殊性，如軟性材質(zhì)、不允許接觸的表面、微小特征等，或出于測(cè)量效率的要求，確實(shí)需要非接觸式測(cè)量。對(duì)于此類應(yīng)用，點(diǎn)光源測(cè)頭也很好彌補(bǔ)了接觸式測(cè)頭的不足。