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一六儀器 專業(yè)測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀
應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題
一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體
元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物
一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005umxiao測(cè)量面積0.002m㎡ 深凹槽20mm以上
鍍層厚度分析儀使用注意事項(xiàng)
1.儀器供電電壓必須與儀器銘牌上的電壓一致。儀器必須使用三線插頭連到一個(gè)已接地的插座上。
2.鍍層厚度分析儀為精密儀器,建議配備的穩(wěn)壓電源。計(jì)算機(jī)和儀器應(yīng)配備不間斷電源(UPS)。
3.鍍層厚度分析儀應(yīng)特別注意與存在電磁的場(chǎng)合隔離開來。
4.儀器適合在10~40℃(50~104℉)的環(huán)境溫度下操作使用,在0~50℃(32~122℉)的溫度下存放。操作和存放的允許濕度范圍在0~65%之間(非冷凝)。在操作過程中,環(huán)境溫度和濕度應(yīng)保持恒定。
5.儀器曝曬在陽光下時(shí)溫度極易超過50℃。所以請(qǐng)不要在這樣的環(huán)境下操作和存放儀器,以避免高溫對(duì)儀器造成損害。
6.為避免短路,嚴(yán)禁儀器與液體直接接觸。如果液體進(jìn)入儀器,請(qǐng)立刻關(guān)閉儀器并在重新使用前請(qǐng)技術(shù)人員整體檢查儀器。
7.鍍層厚度分析儀不能用于酸性環(huán)境和場(chǎng)合。
8.不要弄臟和刮擦元素片或調(diào)校標(biāo)準(zhǔn)片,否則會(huì)造成讀數(shù)錯(cuò)誤。
9.不要用任何機(jī)械或化學(xué)的方法清除元素片或調(diào)校標(biāo)準(zhǔn)片上的污物。如果必要的話,可以用一塊不起毛的布輕輕擦除臟物。
江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn),經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀
X射線熒光光譜測(cè)厚儀定量分析
利用熒光X射線進(jìn)行定量分析的時(shí)候,大致分為3個(gè)方法。一個(gè)是制作測(cè)量線的方法(經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法)。這個(gè)方法是測(cè)定幾點(diǎn)實(shí)際的已知濃度樣品,尋求想測(cè)定元素的熒光X射線強(qiáng)度和濃度之間的關(guān)系,以其結(jié)果為基礎(chǔ)測(cè)定未知樣品取得熒光X射線,從而得到濃度值。
另一個(gè)方法是理論演算的基礎(chǔ)參數(shù)法(FP法)。這個(gè)方法在完全了解樣品的構(gòu)成和元素種類前提,利用計(jì)算的各個(gè)熒光X射線強(qiáng)度的理論值,推測(cè)測(cè)定得到未知樣品各個(gè)元素的熒光X射線強(qiáng)度的組成一致。
江蘇一六儀器 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀 為大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析提供解決方案
X射線熒光光譜測(cè)厚儀操作流程:
1.打開儀器電源 開關(guān)
2.打開測(cè)試軟件
3.聯(lián)機(jī)
4.打開儀器高壓鑰匙,觀察軟件界面管流值不為0值且正常上升至1000左右
5.待機(jī)30分鐘
6.打開測(cè)試腔放入標(biāo)準(zhǔn)元素片Ag,通過調(diào)整移動(dòng)平臺(tái)滑軌和焦距旋鈕使軟件測(cè)試畫面清晰
7.點(diǎn)擊峰位校正圖標(biāo)按照提示進(jìn)行操作
8.根據(jù)已知樣品信息新建(或選擇)合適的產(chǎn)品程式
9.點(diǎn)擊資料圖標(biāo),根據(jù)客戶需求調(diào)整相關(guān)測(cè)量參數(shù)
10.放置樣品:打開測(cè)試腔,將樣品需要測(cè)試的一面大致朝向測(cè)試窗,邊觀察軟件測(cè)試畫面邊通過移動(dòng)平臺(tái)滑軌微調(diào)測(cè)試位置
進(jìn)而達(dá)到測(cè)試要求位置
11.調(diào)整焦距:使用儀器左側(cè)焦距調(diào)整旋鈕,使得軟件測(cè)試畫面盡可能清晰
12.開始測(cè)量:點(diǎn)擊開始測(cè)試圖標(biāo),進(jìn)行樣品測(cè)試或者按動(dòng)儀器前面板測(cè)試按鈕進(jìn)行樣品測(cè)試
13.數(shù)據(jù)報(bào)告:對(duì)測(cè)量的數(shù)據(jù)結(jié)果進(jìn)行對(duì)比和分析,判斷數(shù)據(jù)是否正常,若出現(xiàn)異??蛇M(jìn)行多次測(cè)量排除偶然誤差
14.生成報(bào)告:點(diǎn)擊預(yù)覽報(bào)告可以對(duì)測(cè)試報(bào)告內(nèi)容和格式進(jìn)行調(diào)整,還可以電子版保存報(bào)告和直接打印紙質(zhì)報(bào)告
15.整理反饋:對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分析和整理,可通過給出測(cè)試報(bào)告的形式與客戶進(jìn)行溝通和反饋